RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Компьютерная оптика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Компьютерная оптика, 2016, том 40, выпуск 1, страницы 36–44 (Mi co113)  

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Метод измерения толщины срезов одноосных анизотропных кристаллов и термическое управление преобразованием пучка Бесселя

В. Д. Паранинa, С. В. Карпеевba

a Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет) (СГАУ), Самара, Россия
b Институт систем обработки изображений РАН, Самара, Россия

Аннотация: Предложен метод поляризационного измерения толщины и двулучепреломления X-срезов одноосных кристаллов, заключающийся в измерении спектрального пропускания структуры «поляризатор-кристалл-анализатор». С использованием кристаллов X-среза конгруэнтного ниобата лития с номинальной толщиной 1,052 мм проведена экспериментальная апробация метода и даны практические рекомендации по его использованию. Показана возможность управления преобразованием пучка Бесселя внутри кристалла CaCO$_3$ за счёт изменения его толщины. Экспериментально исследовано управление преобразованием пучков Бесселя нулевого порядка в вихревой пучок Бесселя второго порядка за счёт эффекта теплового линейного расширения кристалла при его нагреве.

Ключевые слова: двулучепреломление, одноосный кристалл, спектр пропускания, измерение толщины, вихревые пучки Бесселя, управление преобразованием пучка, тепловое расширение.

Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации
Российский фонд фундаментальных исследований 16-07-00825_а
14-02-97033р_поволжье_а
Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации и Российского фонда фундаментальных исследований (гранты РФФИ 16-07-00825, 14-02-97033р_поволжье_а).


DOI: https://doi.org/10.18287/2412-6179-2016-40-1-36-44

Полный текст: PDF файл (539 kB)
Полный текст: http://www.computeroptics.smr.ru/.../400106.html
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Тип публикации: Статья
Поступила в редакцию: 24.12.2015
Исправленный вариант: 09.02.2016

Образец цитирования: В. Д. Паранин, С. В. Карпеев, “Метод измерения толщины срезов одноосных анизотропных кристаллов и термическое управление преобразованием пучка Бесселя”, Компьютерная оптика, 40:1 (2016), 36–44

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ParKar16}
\by В.~Д.~Паранин, С.~В.~Карпеев
\paper Метод измерения толщины срезов одноосных анизотропных кристаллов и термическое управление преобразованием пучка Бесселя
\jour Компьютерная оптика
\yr 2016
\vol 40
\issue 1
\pages 36--44
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/co113}
\crossref{https://doi.org/10.18287/2412-6179-2016-40-1-36-44}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/co113
  • http://mi.mathnet.ru/rus/co/v40/i1/p36

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Компьютерная оптика
    Просмотров:
    Эта страница:113
    Полный текст:47
    Литература:50
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020