RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Подписка
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискретн. анализ и исслед. опер.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискретн. анализ и исслед. опер., 2013, том 20, номер 2, страницы 58–74 (Mi da726)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисах из элементов, имеющих не более двух входов

С. С. Коляда

Московский гос. университет им. М. В. Ломоносова, Москва, Россия

Аннотация: Рассматриваются схемы в базисах из функциональных элементов, имеющих не более двух входов. Установлена возможность реализации любой булевой функции от $n$ переменных схемой, допускающей при константных неисправностях единичные проверяющие тесты линейной по $n$ длины. Ил. 18, библиогр. 6.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, единичный проверяющий тест, константная неисправность.

Полный текст: PDF файл (303 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.95
Статья поступила: 15.01.2012
Переработанный вариант: 09.10.2012

Образец цитирования: С. С. Коляда, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисах из элементов, имеющих не более двух входов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 20:2 (2013), 58–74

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Kol13}
\by С.~С.~Коляда
\paper Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в~базисах из элементов, имеющих не более двух входов
\jour Дискретн. анализ и исслед. опер.
\yr 2013
\vol 20
\issue 2
\pages 58--74
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/da726}
\mathscinet{http://www.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3113401}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/da726
  • http://mi.mathnet.ru/rus/da/v20/i2/p58

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Д. С. Романов, “Метод синтеза легкотестируемых схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 26:2 (2014), 100–130  mathnet  crossref  mathscinet  elib; D. S. Romanov, “Method of synthesis of easily testable circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 24:4 (2014), 227–251  crossref
  • Дискретный анализ и исследование операций
    Просмотров:
    Эта страница:187
    Полный текст:64
    Литература:33
    Первая стр.:4
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020