RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Подписка
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискретн. анализ и исслед. опер.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискретн. анализ и исслед. опер., 2017, том 24, номер 3, страницы 80–103 (Mi da876)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Миусская пл., 4, 125047 Москва, Россия

Аннотация: Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в базисе $\{\mathbin&,\vee,\neg\}$, реализующих булевы функции от $n$ переменных и допускающих короткие единичные диагностические тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит двух. Ил. 3, библиогр. 27.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, неисправность, единичный диагностический тест.

Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 14-01-00598_а
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Исследование выполнено при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект 14–01–00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).


DOI: https://doi.org/10.17377/daio.2017.24.546

Полный текст: PDF файл (393 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Journal of Applied and Industrial Mathematics, 2017, 11:3, 431–443

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Статья поступила: 08.06.2016
Переработанный вариант: 27.02.2017

Образец цитирования: К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103; J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop17}
\by К.~А.~Попков
\paper О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем
\jour Дискретн. анализ и исслед. опер.
\yr 2017
\vol 24
\issue 3
\pages 80--103
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/da876}
\crossref{https://doi.org/10.17377/daio.2017.24.546}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=29869484}
\transl
\jour J. Appl. Industr. Math.
\yr 2017
\vol 11
\issue 3
\pages 431--443
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1990478917030140}
\scopus{http://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85028539308}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/da876
  • http://mi.mathnet.ru/rus/da/v24/i3/p80

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018), 62–81  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312  crossref
    2. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116  mathnet  crossref  elib
  • Дискретный анализ и исследование операций
    Просмотров:
    Эта страница:84
    Полный текст:6
    Литература:10
    Первая стр.:6

     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2019