RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Подписка
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискрет. матем.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискрет. матем., 2010, том 22, выпуск 3, страницы 127–133 (Mi dm1112)  

Эта публикация цитируется в 19 научных статьях (всего в 19 статьях)

Синтез легкотестируемых схем в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа 0 на выходах элементов

Ю. В. Бородина, П. А. Бородин


Аннотация: Предложены методы синтеза легкотестируемых схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина для произвольных булевых функций. В качестве неисправностей предполагаются константные неисправности типа 0 на выходах элементов. Доказано, что любую булеву функцию можно реализовать схемой, допускающей полный проверяющий тест длины 1.
Работа первого автора выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, проект 08–01–00863, и программы Президента Российской Федерации поддержки ведущих научных школ, проект НШ 4470.2008.1.
Работа второго автора выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, проект 08–01–00648.

DOI: https://doi.org/10.4213/dm1112

Полный текст: PDF файл (112 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Discrete Mathematics and Applications, 2010, 20:4, 441–449

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
УДК: 519.7
Статья поступила: 23.01.2009

Образец цитирования: Ю. В. Бородина, П. А. Бородин, “Синтез легкотестируемых схем в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа 0 на выходах элементов”, Дискрет. матем., 22:3 (2010), 127–133; Discrete Math. Appl., 20:4 (2010), 441–449

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BorBor10}
\by Ю.~В.~Бородина, П.~А.~Бородин
\paper Синтез легкотестируемых схем в~базисе Жегалкина при константных неисправностях типа~0 на выходах элементов
\jour Дискрет. матем.
\yr 2010
\vol 22
\issue 3
\pages 127--133
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dm1112}
\crossref{https://doi.org/10.4213/dm1112}
\mathscinet{http://www.ams.org/mathscinet-getitem?mr=2757890}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=20730352}
\transl
\jour Discrete Math. Appl.
\yr 2010
\vol 20
\issue 4
\pages 441--449
\crossref{https://doi.org/10.1515/DMA.2010.027}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=22104080}
\scopus{http://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-77958504158}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/dm1112
  • https://doi.org/10.4213/dm1112
  • http://mi.mathnet.ru/rus/dm/v22/i3/p127

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Д. С. Романов, “Метод синтеза легкотестируемых схем в одном базисе, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2012, № 2, 24–29  mathnet  mathscinet; D. S. Romanov, “A method for synthesis of easily-testable circuits in some basis admitting single fault detection tests of constant length”, Moscow University Mathematics Bulletin, 67:2 (2012), 69–73  crossref
    2. Д. С. Романов, “О синтезе схем, допускающих полные проверяющие тесты константной длины относительно произвольных константных неисправностей на выходах элементов”, Дискрет. матем., 25:2 (2013), 104–120  mathnet  crossref  mathscinet  elib; D. S. Romanov, “On the synthesis of circuits admitting complete fault detection test sets of constant length under arbitrary constant faults at the outputs of the gates”, Discrete Math. Appl., 23:3-4 (2013), 343–362  crossref  elib
    3. Д. С. Романов, “Метод синтеза легкотестируемых схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 26:2 (2014), 100–130  mathnet  crossref  mathscinet  elib; D. S. Romanov, “Method of synthesis of easily testable circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 24:4 (2014), 227–251  crossref
    4. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2015, 074, 20 с.  mathnet
    5. К. А. Попков, “О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 050, 16 с.  mathnet  crossref
    6. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 139, 21 с.  mathnet  crossref
    7. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе «конъюнкция-отрицание»”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 030, 31 с.  mathnet  crossref
    8. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017), 53–69  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Lower bounds for lengths of single tests for Boolean circuits”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33  crossref  isi
    9. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “On the exact value of the length of the minimal single diagnostic test for a particular class of circuits”, J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443  crossref
    10. Н. П. Редькин, “К вопросу о длине диагностических тестов для схем”, Матем. заметки, 102:4 (2017), 624–627  mathnet  crossref  mathscinet  elib; N. P. Red'kin, “Length of Diagnostic Tests for Boolean Circuits”, Math. Notes, 102:4 (2017), 580–582  crossref  isi
    11. Д. С. Романов, Е. Ю. Романова, “Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 87–105  mathnet  crossref  elib; D. S. Romanov, E. Yu. Romanova, “A method of synthesis of irredundant circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 35–48  crossref  isi
    12. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 104, 16 с.  mathnet  crossref
    13. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание””, ПДМ, 2017, № 38, 66–88  mathnet  crossref
    14. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018), 62–81  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312  crossref
    15. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Short single tests for circuits with arbitrary stuck-at faults at outputs of gates”, Discrete Math. Appl., 29:5 (2019), 321–333  crossref  isi
    16. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 033, 23 с.  mathnet  crossref  elib
    17. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 197, 24 с.  mathnet  crossref  elib
    18. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 26:1 (2019), 89–113  mathnet  crossref; K. A. Popkov, “Short complete fault detection tests for logic networks with fan-in two”, J. Appl. Industr. Math., 13:1 (2019), 118–131  crossref
    19. Ю. В. Бородина, “Легкотестируемые схемы в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа “1” на выходах элементов”, Дискрет. матем., 31:2 (2019), 14–19  mathnet  crossref  elib
  • Дискретная математика
    Просмотров:
    Эта страница:564
    Полный текст:127
    Литература:40
    Первая стр.:25
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020