RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Подписка
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискрет. матем.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискрет. матем., 2013, том 25, выпуск 2, страницы 104–120 (Mi dm1239)  

Эта публикация цитируется в 17 научных статьях (всего в 17 статьях)

О синтезе схем, допускающих полные проверяющие тесты константной длины относительно произвольных константных неисправностей на выходах элементов

Д. С. Романов


Аннотация: В работе предлагается метод синтеза схем из функциональных элементов в специальном базисе, допускающих полные проверяющие тесты длины не более 4 при произвольных константных неисправностях на выходах функциональных элементов.

DOI: https://doi.org/10.4213/dm1239

Полный текст: PDF файл (247 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Discrete Mathematics and Applications, 2013, 23:3-4, 343–362

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
УДК: 519.714
Статья поступила: 02.03.2011

Образец цитирования: Д. С. Романов, “О синтезе схем, допускающих полные проверяющие тесты константной длины относительно произвольных константных неисправностей на выходах элементов”, Дискрет. матем., 25:2 (2013), 104–120; Discrete Math. Appl., 23:3-4 (2013), 343–362

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Rom13}
\by Д.~С.~Романов
\paper О синтезе схем, допускающих полные проверяющие тесты константной длины относительно произвольных константных неисправностей на выходах элементов
\jour Дискрет. матем.
\yr 2013
\vol 25
\issue 2
\pages 104--120
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dm1239}
\crossref{https://doi.org/10.4213/dm1239}
\mathscinet{http://www.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3156638}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=20730480}
\transl
\jour Discrete Math. Appl.
\yr 2013
\vol 23
\issue 3-4
\pages 343--362
\crossref{https://doi.org/10.1515/dma-2013-024}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=22104082}
\scopus{http://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-84894573697}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/dm1239
  • https://doi.org/10.4213/dm1239
  • http://mi.mathnet.ru/rus/dm/v25/i2/p104

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Д. С. Романов, “Метод синтеза легкотестируемых схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 26:2 (2014), 100–130  mathnet  crossref  mathscinet  elib; D. S. Romanov, “Method of synthesis of easily testable circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 24:4 (2014), 227–251  crossref
    2. К. А. Попков, “Оценки длин тестов для функциональных элементов при большом числе допустимых неисправностей”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 22:5 (2015), 52–70  mathnet  crossref  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Estimations on lengths of tests of functional elements under a large number of permissible faults”, J. Appl. Industr. Math., 9:4 (2015), 559–569  crossref
    3. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2015, 074, 20 с.  mathnet
    4. К. А. Попков, “О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 050, 16 с.  mathnet  crossref
    5. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 139, 21 с.  mathnet  crossref
    6. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе «конъюнкция-отрицание»”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 030, 31 с.  mathnet  crossref
    7. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017), 53–69  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Lower bounds for lengths of single tests for Boolean circuits”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33  crossref  isi
    8. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “On the exact value of the length of the minimal single diagnostic test for a particular class of circuits”, J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443  crossref
    9. Н. П. Редькин, “К вопросу о длине диагностических тестов для схем”, Матем. заметки, 102:4 (2017), 624–627  mathnet  crossref  mathscinet  elib; N. P. Red'kin, “Length of Diagnostic Tests for Boolean Circuits”, Math. Notes, 102:4 (2017), 580–582  crossref  isi
    10. Д. С. Романов, Е. Ю. Романова, “Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 87–105  mathnet  crossref  elib; D. S. Romanov, E. Yu. Romanova, “A method of synthesis of irredundant circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 35–48  crossref  isi
    11. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 104, 16 с.  mathnet  crossref
    12. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание””, ПДМ, 2017, № 38, 66–88  mathnet  crossref
    13. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018), 62–81  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312  crossref
    14. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Short single tests for circuits with arbitrary stuck-at faults at outputs of gates”, Discrete Math. Appl., 29:5 (2019), 321–333  crossref  isi
    15. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 033, 23 с.  mathnet  crossref  elib
    16. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 197, 24 с.  mathnet  crossref  elib
    17. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 26:1 (2019), 89–113  mathnet  crossref; K. A. Popkov, “Short complete fault detection tests for logic networks with fan-in two”, J. Appl. Industr. Math., 13:1 (2019), 118–131  crossref
  • Дискретная математика
    Просмотров:
    Эта страница:266
    Полный текст:82
    Литература:38
    Первая стр.:22
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020