RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Подписка
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискрет. матем.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискрет. матем., 2014, том 26, выпуск 2, страницы 100–130 (Mi dm1283)  

Эта публикация цитируется в 14 научных статьях (всего в 14 статьях)

Метод синтеза легкотестируемых схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины

Д. С. Романов

МГУ им. М. В. Ломоносова

Аннотация: Предлагается метод синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в произвольном полном базисе, реализующих произвольные отличные от констант булевы функции и допускающих единичные проверяющие тесты длины не более 4 при инверсных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, единичный проверяющий тест, константная неисправность на выходе элемента, константная неисправность на выходе элемента, функция Шеннона длины теста, легкотестируемая схема.

Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 12-01-00964-а
13-01-00958-а
Работа выполнена при поддержке РФФИ (проекты № 12-01-00964-а и № 13-01-00958-а).


DOI: https://doi.org/10.4213/dm1283

Полный текст: PDF файл (533 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Discrete Mathematics and Applications, 2014, 24:4, 227–251

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
УДК: 519.718
Статья поступила: 24.04.2012

Образец цитирования: Д. С. Романов, “Метод синтеза легкотестируемых схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 26:2 (2014), 100–130; Discrete Math. Appl., 24:4 (2014), 227–251

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Rom14}
\by Д.~С.~Романов
\paper Метод синтеза легкотестируемых схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины
\jour Дискрет. матем.
\yr 2014
\vol 26
\issue 2
\pages 100--130
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dm1283}
\crossref{https://doi.org/10.4213/dm1283}
\mathscinet{http://www.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3288148}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=21826378}
\transl
\jour Discrete Math. Appl.
\yr 2014
\vol 24
\issue 4
\pages 227--251
\crossref{https://doi.org/10.1515/dma-2014-0021}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-84923823987}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/dm1283
  • https://doi.org/10.4213/dm1283
  • http://mi.mathnet.ru/rus/dm/v26/i2/p100

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. К. А. Попков, “Оценки длин тестов для функциональных элементов при большом числе допустимых неисправностей”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 22:5 (2015), 52–70  mathnet  crossref  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Estimations on lengths of tests of functional elements under a large number of permissible faults”, J. Appl. Industr. Math., 9:4 (2015), 559–569  crossref
    2. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2015, 074, 20 с.  mathnet
    3. К. А. Попков, “О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 050, 16 с.  mathnet  crossref
    4. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 139, 21 с.  mathnet  crossref
    5. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе «конъюнкция-отрицание»”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 030, 31 с.  mathnet  crossref
    6. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017), 53–69  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Lower bounds for lengths of single tests for Boolean circuits”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33  crossref  isi
    7. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “On the exact value of the length of the minimal single diagnostic test for a particular class of circuits”, J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443  crossref
    8. Н. П. Редькин, “К вопросу о длине диагностических тестов для схем”, Матем. заметки, 102:4 (2017), 624–627  mathnet  crossref  mathscinet  elib; N. P. Red'kin, “Length of Diagnostic Tests for Boolean Circuits”, Math. Notes, 102:4 (2017), 580–582  crossref  isi
    9. Д. С. Романов, Е. Ю. Романова, “Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 87–105  mathnet  crossref  elib; D. S. Romanov, E. Yu. Romanova, “A method of synthesis of irredundant circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 35–48  crossref  isi
    10. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 104, 16 с.  mathnet  crossref
    11. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание””, ПДМ, 2017, № 38, 66–88  mathnet  crossref
    12. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018), 62–81  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312  crossref
    13. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Short single tests for circuits with arbitrary stuck-at faults at outputs of gates”, Discrete Math. Appl., 29:5 (2019), 321–333  crossref  isi
    14. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 033, 23 с.  mathnet  crossref  elib
  • Дискретная математика
    Просмотров:
    Эта страница:269
    Полный текст:74
    Литература:28
    Первая стр.:27
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020