RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Подписка
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискрет. матем.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискрет. матем., 2017, том 29, выпуск 2, страницы 53–69 (Mi dm1429)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов

К. А. Попков

ИПМ им. М.В.Келдыша РАН

Аннотация: Получены нетривиальные нижние оценки длин минимальных единичных проверяющих и диагностических тестов для схем из функциональных элементов в широких классах базисов при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, константная неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест

Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 14-01-00598
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект № 14–01–00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).


DOI: https://doi.org/10.4213/dm1429

Полный текст: PDF файл (464 kB)
Первая страница: PDF файл
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Discrete Mathematics and Applications, 2019, 29:1, 23–33

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Статья поступила: 16.09.2016

Образец цитирования: К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017), 53–69; Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop17}
\by К.~А.~Попков
\paper Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов
\jour Дискрет. матем.
\yr 2017
\vol 29
\issue 2
\pages 53--69
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dm1429}
\crossref{https://doi.org/10.4213/dm1429}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=29437295}
\transl
\jour Discrete Math. Appl.
\yr 2019
\vol 29
\issue 1
\pages 23--33
\crossref{https://doi.org/10.1515/dma-2019-0004}
\isi{http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=PARTNER_APP&SrcAuth=LinksAMR&DestLinkType=FullRecord&DestApp=ALL_WOS&KeyUT=000459400000004}
\scopus{http://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85062565550}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/dm1429
  • https://doi.org/10.4213/dm1429
  • http://mi.mathnet.ru/rus/dm/v29/i2/p53

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Д. С. Романов, Е. Ю. Романова, “Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 87–105  mathnet  crossref  elib; D. S. Romanov, E. Yu. Romanova, “A method of synthesis of irredundant circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 35–48  crossref
    2. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116  mathnet  crossref  elib
  • Дискретная математика
    Просмотров:
    Эта страница:133
    Литература:18
    Первая стр.:24

     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2019