RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖЭТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в ЖЭТФ, 2014, том 99, выпуск 10, страницы 683–686 (Mi jetpl3742)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

РАЗНОЕ

Фотоэлектронная сканирующая микроскопия с полым острием

А. П. Черкун, Б. Н. Миронов, С. А. Асеев, С. В. Чекалин

Институт спектроскопии РАН, г. Троицк

Аннотация: Реализован новый тип микроскопии на основе сканирования в вакууме полым зондом, сквозь который пропущен пучок заряженных частиц. Такой подход позволяет контролируемым образом перемещать пространственно-локализованные пучки ионов, электронов, молекул (атомов) и мягкого рентгеновского излучения, а также проводить исследования поверхности в “классическом” зондовом режиме. В фотоэлектронной моде, когда электроны пропущены сквозь $2$-микронный кварцевый капилляр, с субволновым пространственным разрешением визуализирован профиль поверхности гадолиния, облученной $400$-нанометровыми фемтосекундными лазерными импульсами. Новый метод микроскопии открывает возможность для исследований в области нанолокальной фотодесорбции молекулярных ионов (одна из последних идей В. С. Летохова).

DOI: https://doi.org/10.7868/S0370274X14100087

Полный текст: PDF файл (276 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2014, 99:10, 594–597

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
Поступила в редакцию: 08.04.2014
Исправленный вариант: 22.04.2014

Образец цитирования: А. П. Черкун, Б. Н. Миронов, С. А. Асеев, С. В. Чекалин, “Фотоэлектронная сканирующая микроскопия с полым острием”, Письма в ЖЭТФ, 99:10 (2014), 683–686; JETP Letters, 99:10 (2014), 594–597

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{CheMirAse14}
\by А.~П.~Черкун, Б.~Н.~Миронов, С.~А.~Асеев, С.~В.~Чекалин
\paper Фотоэлектронная сканирующая микроскопия с полым острием
\jour Письма в ЖЭТФ
\yr 2014
\vol 99
\issue 10
\pages 683--686
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jetpl3742}
\crossref{https://doi.org/10.7868/S0370274X14100087}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=21695957}
\transl
\jour JETP Letters
\yr 2014
\vol 99
\issue 10
\pages 594--597
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0021364014100038}
\isi{http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=PARTNER_APP&SrcAuth=LinksAMR&DestLinkType=FullRecord&DestApp=ALL_WOS&KeyUT=000340359000008}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=23976959}
\scopus{http://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-84905435767}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/jetpl3742
  • http://mi.mathnet.ru/rus/jetpl/v99/i10/p683

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Б. Н. Миронов, А. П. Черкун, С. А. Асеев, С. В. Чекалин, Квантовая электроника, 47:8 (2017), 757–761  mathnet  elib; Quantum Electron., 47:8 (2017), 757–761  crossref  isi
  • Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики Pis'ma v Zhurnal Иksperimental'noi i Teoreticheskoi Fiziki
    Просмотров:
    Эта страница:151
    Полный текст:37
    Литература:33
    Первая стр.:14
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020