RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Матем. моделирование:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Матем. моделирование, 2007, том 19, номер 10, страницы 29–43 (Mi mm1199)  

Моделирование процессов образования и миграции пор в межсоединениях электрических схем

Ю. Н. Карамзинa, С. В. Поляковa, И. В. Поповa, Г. М. Кобельковb, С. Г. Кобельковb, Jun Ho Choyc

a Институт математического моделирования РАН
b Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова
c LSI Logic Incorporation

Аннотация: Рассмотрены проблемы моделирования образования и миграции пор в межсоединениях электрических схем. Предложена математическая модель процессов, основанная на дрейфо-диффузионном приближении. Для анализа модели в случае плоской прямоугольной геометрии межсоединения построены монотонные консервативные конечно-разностные схемы, разработаны алгоритмы их численной реализации для персонального компьютера и многопроцессорных вычислительных систем. Апробация разработанного подхода проведена на модельной задаче. В численных экспериментах показано, что модель качественно и количественно описывает основные физические процессы и может быть использована на этапе разработки новых микросхем.

Полный текст: PDF файл (509 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Реферативные базы данных:
Поступила в редакцию: 19.03.2007

Образец цитирования: Ю. Н. Карамзин, С. В. Поляков, И. В. Попов, Г. М. Кобельков, С. Г. Кобельков, Jun Ho Choy, “Моделирование процессов образования и миграции пор в межсоединениях электрических схем”, Матем. моделирование, 19:10 (2007), 29–43

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KarPolPop07}
\by Ю.~Н.~Карамзин, С.~В.~Поляков, И.~В.~Попов, Г.~М.~Кобельков, С.~Г.~Кобельков, Jun Ho Choy
\paper Моделирование процессов образования и миграции пор в~межсоединениях электрических схем
\jour Матем. моделирование
\yr 2007
\vol 19
\issue 10
\pages 29--43
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/mm1199}
\mathscinet{http://www.ams.org/mathscinet-getitem?mr=2375826}
\zmath{https://zbmath.org/?q=an:1140.65344}
\elib{http://elibrary.ru/item.asp?id=9556839}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/mm1199
  • http://mi.mathnet.ru/rus/mm/v19/i10/p29

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Математическое моделирование
    Просмотров:
    Эта страница:443
    Полный текст:109
    Литература:36
    Первая стр.:23
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2019