 |
|
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье) Сканирующий атомно-силовой микроскоп С. Ш. Рехвиашвили Научно-исследовательский институт прикладной математики и автоматизации Кабардино-Балкарского научного центра РАН Аннотация: Предложена методика математического моделирования атомно-силового микроскопа с учетом основных особенностей формирования сигнала в системе детектирования и блоке электроники прибора. С помощью численного эксперимента, выполненного по данной методике, проанализирована работа прибора. В расчетах сил взаимодействия использовался модельный потенциал, параметры которого оценивались в приближении электронного газа. Предложенная методика моделирования позволяет более корректно (с учетом характеристик конкретного прибора) интерпретировать экспериментальные результаты.  Полный текст:
PDF файл (613 kB)
Реферативные базы данных: 
Поступила в редакцию: 07.08.2001 Образец цитирования: С. Ш. Рехвиашвили, “Сканирующий атомно-силовой микроскоп”, Матем. моделирование, 15:2 (2003), 
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Rek03}Образцы ссылок на эту страницу:
Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
|
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
Обратная связь: |
 Пользовательское соглашение
|
Регистрация |
Логотипы |
|