RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Матем. моделирование:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Матем. моделирование, 2003, том 15, номер 2, страницы 62–68 (Mi mm491)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Сканирующий атомно-силовой микроскоп

С. Ш. Рехвиашвили

Научно-исследовательский институт прикладной математики и автоматизации Кабардино-Балкарского научного центра РАН

Аннотация: Предложена методика математического моделирования атомно-силового микроскопа с учетом основных особенностей формирования сигнала в системе детектирования и блоке электроники прибора. С помощью численного эксперимента, выполненного по данной методике, проанализирована работа прибора. В расчетах сил взаимодействия использовался модельный потенциал, параметры которого оценивались в приближении электронного газа. Предложенная методика моделирования позволяет более корректно (с учетом характеристик конкретного прибора) интерпретировать экспериментальные результаты.

Полный текст: PDF файл (613 kB)

Реферативные базы данных:
Поступила в редакцию: 07.08.2001

Образец цитирования: С. Ш. Рехвиашвили, “Сканирующий атомно-силовой микроскоп”, Матем. моделирование, 15:2 (2003), 62–68

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Rek03}
\by С.~Ш.~Рехвиашвили
\paper Сканирующий атомно-силовой микроскоп
\jour Матем. моделирование
\yr 2003
\vol 15
\issue 2
\pages 62--68
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/mm491}
\zmath{https://zbmath.org/?q=an:1030.78501}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/mm491
  • http://mi.mathnet.ru/rus/mm/v15/i2/p62

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Potapov A.A., Rekhviashvili S.Sh., “Simulation of Properties of Images With Atomic Resolution in a Scanning Probe Microscope”, Tech. Phys., 63:6 (2018), 777–781  crossref  isi  scopus
  • Математическое моделирование
    Просмотров:
    Эта страница:736
    Полный текст:213
    Первая стр.:2
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2019