Наносистемы: физика, химия, математика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Наносистемы: физика, химия, математика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Наносистемы: физика, химия, математика, 2017, том 8, выпуск 6, страницы 809–815 (Mi nano107)  

CHEMISTRY AND MATERIAL SCIENCE

Fractal analysis – a surrogate technique for material characterization

M. S. Swapna, S. Sankararaman

Department of Optoelectronics and Department of Nanoscience and Nanotechnology, University of Kerala, Trivandrum, Kerala, 695581, India

Аннотация: Fractal analysis has emerged as a potential analytical tool in almost all branches of science and technology. The paper is the first report of using fractal dimension as a surrogate technique for estimating particle size. A regression equation is set connecting the soot particle size and fractal dimension, after investigating the Field Emission Scanning Electron Microscopic (FESEM) images of carbonaceous soot from five different sources. Since the fractal dimension is an invariant property under the scale transformation, an ordinary photograph of the soot should also yield the same fractal dimension. This enables one to determine the average size of the soot particles, using the regression equation, by calculating the fractal dimension from the photograph. Hence, instead of frequent measurement of average particle size from FESEM, this technique of estimating the particle size from the fractal dimension of the soot photograph, is found to be a potentially cost-effective and non-contact method.

Ключевые слова: fractals, FESEM, carbon nanoparticles, particle size, box-counting.

DOI: https://doi.org/10.17586/2220-8054-2017-8-6-809-815

Полный текст: PDF файл (3118 kB)
Полный текст: http://nanojournal.ifmo.ru/en/articles-2/volume8/8-6/chemistry/paper15/

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
PACS: 81.05 U, 05.45.Df, 61.48.De, 81.20.Ka
Поступила в редакцию: 16.10.2017
Исправленный вариант: 26.10.2017
Язык публикации: английский

Образец цитирования: M. S. Swapna, S. Sankararaman, “Fractal analysis – a surrogate technique for material characterization”, Наносистемы: физика, химия, математика, 8:6 (2017), 809–815

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SwaSan17}
\by M.~S.~Swapna, S.~Sankararaman
\paper Fractal analysis -- a surrogate technique for material characterization
\jour Наносистемы: физика, химия, математика
\yr 2017
\vol 8
\issue 6
\pages 809--815
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/nano107}
\crossref{https://doi.org/10.17586/2220-8054-2017-8-6-809-815}
\isi{http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=PARTNER_APP&SrcAuth=LinksAMR&DestLinkType=FullRecord&DestApp=ALL_WOS&KeyUT=000419787600015}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/nano107
  • http://mi.mathnet.ru/rus/nano/v8/i6/p809

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Наносистемы: физика, химия, математика
    Просмотров:
    Эта страница:27
    Полный текст:1
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2021