RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ПДМ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


ПДМ, 2016, номер 4(34), страницы 65–73 (Mi pdm564)  

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия

Аннотация: Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов: 1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем и 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем.

Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 14-01-00598_а
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Работа выполнена при поддержке РФФИ (проект № 14-01-00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).


DOI: https://doi.org/10.17223/20710410/34/5

Полный текст: PDF файл (659 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7

Образец цитирования: К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, ПДМ, 2016, № 4(34), 65–73

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop16}
\by К.~А.~Попков
\paper Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
\jour ПДМ
\yr 2016
\issue 4(34)
\pages 65--73
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pdm564}
\crossref{https://doi.org/10.17223/20710410/34/5}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/pdm564
  • http://mi.mathnet.ru/rus/pdm/y2016/i4/p65

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Д. С. Романов, Е. Ю. Романова, “Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 87–105  mathnet  crossref  elib; D. S. Romanov, E. Yu. Romanova, “A method of synthesis of irredundant circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 35–48  crossref
    2. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018), 62–81  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312  crossref
    3. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116  mathnet  crossref  elib
  • Прикладная дискретная математика
    Просмотров:
    Эта страница:35
    Полный текст:9
    Литература:13

     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2019