Прикладная дискретная математика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ПДМ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


ПДМ, 2021, номер 51, страницы 85–100 (Mi pdm732)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия

Аннотация: Доказано, что любую неконстантную булеву функцию от $n$ переменных можно реализовать неизбыточной схемой из функциональных элементов в базисе $\{&,\oplus,\neg\}$, содержащей не более одной фиктивной входной переменной и допускающей единичный проверяющий тест длины не более $2n+3$ относительно произвольных неисправностей элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, булева функция, неисправность, единичный проверяющий тест.

Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 19-71-30004
Работа выполнена при поддержке гранта РНФ, проект № 19-71-30004.


DOI: https://doi.org/10.17223/20710410/51/4

Полный текст: PDF файл (736 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7

Образец цитирования: К. А. Попков, “О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2021, № 51, 85–100

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop21}
\by К.~А.~Попков
\paper О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов
\jour ПДМ
\yr 2021
\issue 51
\pages 85--100
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pdm732}
\crossref{https://doi.org/10.17223/20710410/51/4}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/pdm732
  • http://mi.mathnet.ru/rus/pdm/y2021/i1/p85

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадежных функциональных элементов, имеющих не более двух входов”, Матем. заметки, 111:1 (2022), 145–148  mathnet  crossref; K. A. Popkov, “On Self-Correcting Logic Circuits of Unreliable Gates with at Most Two Inputs”, Math. Notes, 111:1 (2022), 157–160  crossref
  • Прикладная дискретная математика
    Просмотров:
    Эта страница:30
    Полный текст:52
    Литература:2
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2022