Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2010, том 40, номер 5, страницы 411–417 (Mi qe14319)  

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Рассеяние света, прохождение излучения через атмосферу

Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии

Е. А. Сергеева

Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: На основе теоретической модели распространения сфокусированного пучка света в сильно рассеивающей среде обсуждаются различные факторы, ограничивающие возможности двухфотонной флуоресцентной микроскопии (ДФМ) для наблюдения глубинной структуры оптически толстых образцов биологических тканей. Выделены три основные причины ограничения глубины наблюдения методом ДФМ: 1) размытие пучка в результате многократного малоуглового рассеяния, приводящее к потере субмикронного поперечного разрешения; 2) избыточная засветка приповерхностной области объекта, возникающая при наблюдении глубоко расположенных структур в результате увеличения средней мощности источника для компенсации потерь из-за рассеяния; 3) снижение уровня полезного сигнала двухфотонной флуоресценции из-за экспоненциального ослабления мощности накачки. Влияние указанных факторов было рассмотрено в рамках малоуглового диффузионного приближения теории переноса излучения. Показано, что первые два ограничения определяют фундаментальный предел ДФМ, в то время как последнее ограничение является инструментальным пределом и представляется наиболее критичным в современных коммерческих установках лазерной сканирующей микроскопии для подавляющего большинства используемых флуорофоров.

Полный текст: PDF файл (179 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2010, 40:5, 411–417

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
PACS: 42.25.Fx, 33.50.-j, 07.05.Pj
Поступила в редакцию: 26.02.2010
Исправленный вариант: 08.04.2010

Образец цитирования: Е. А. Сергеева, “Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии”, Квантовая электроника, 40:5 (2010), 411–417 [Quantum Electron., 40:5 (2010), 411–417]

Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/qe14319
  • http://mi.mathnet.ru/rus/qe/v40/i5/p411

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Е. А. Сергеева, А. Р. Катичев, М. Ю. Кириллин, Квантовая электроника, 40:12 (2010), 1053–1061  mathnet  elib; Quantum Electron., 40:12 (2010), 1053–1061  crossref  isi
    2. Mathieu Ducros, Marcel van’t Hoff, Alexis Evrard, Christian Seebacher, Elke M. Schmidt, Serge Charpak, Martin Oheim, Journal of Neuroscience Methods, 2011  crossref  isi  scopus
    3. Pediredla A.K., Zhang Sh., Avants B., Ye F., Nagayama Sh., Chen Z., Kemere C., Robinson J.T., Veeraraghavan A., J. Biomed. Opt., 21:12 (2016), 126009  crossref  isi  scopus
  • Квантовая электроника Quantum Electronics
    Просмотров:
    Эта страница:139
    Полный текст:63
    Литература:16
    Первая стр.:1
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2021