RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2013, том 43, номер 4, страницы 308–312 (Mi qe15107)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Экстремальные световые поля и их приложения

Микроскопия фотоионизационных процессов

С. А. Асеев, Б. Н. Миронов, В. Г. Миногин, А. П. Черкун, С. В. Чекалин

Институт спектроскопии РАН, Москва, г. Троицк

Аннотация: Продемонстрирован метод, сочетающий ионизацию свободных молекул остросфокусированным фемтосекундным лазерным излучением с проекционной микроскопией в расходящемся электрическом поле. Электрическое поле создано в вакууме между металлической иглой и плоским позиционно-чувствительным детектором заряженных частиц. Метод позволяет исследовать фотоионизационные процессы в разреженных газовых средах с субдифракционным пространственным разрешением и может быть использован также для измерения профиля остросфокусированного лазерного пучка высокой интенсивности. В демонстрационном эксперименте, в котором фемтосекундное лазерное излучение с пиковой интенсивностью ~1014 Вт/см2 сфокусировано в вакууме вблизи миллиметрового острия в пятно диаметром 40 мкм, достигнуто пространственное разрешение ~2 мкм. Согласно нашим оценкам, использование более острой иглы позволит обеспечить субмикронное пространственное разрешение, что является важным условием для пространственной диагностики остросфокусированного излучения коротковолновой ВУФ и рентгеновской областей спектра.

Ключевые слова: лазерная ионизация атомов и молекул, проекционная ионная микроскопия.

Полный текст: PDF файл (890 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2013, 43:4, 308–312

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
PACS: 32.80.Fb, 33.80.Eh, 07.79.-v, 42.65.Re
Поступила в редакцию: 24.12.2012
Исправленный вариант: 24.01.2013

Образец цитирования: С. А. Асеев, Б. Н. Миронов, В. Г. Миногин, А. П. Черкун, С. В. Чекалин, “Микроскопия фотоионизационных процессов”, Квантовая электроника, 43:4 (2013), 308–312 [Quantum Electron., 43:4 (2013), 308–312]

Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/qe15107
  • http://mi.mathnet.ru/rus/qe/v43/i4/p308

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. С. В. Чекалин, УФН, 184:6 (2014), 672–680  mathnet  crossref  adsnasa  elib; S. V. Chekalin, Phys. Usp., 57:6 (2014), 622–629  crossref  isi  elib
    2. А. А. Ищенко, С. А. Асеев, В. Н. Баграташвили, В. Я. Панченко, Е. А. Рябов, УФН, 184:7 (2014), 681–722  mathnet  crossref  adsnasa  elib; A. A. Ischenko, S. A. Aseyev, V. N. Bagratashvili, V. Ya. Panchenko, E. A. Ryabov, Phys. Usp., 57:7 (2014), 633–669  crossref  isi  elib
  • Квантовая электроника Quantum Electronics
    Просмотров:
    Эта страница:165
    Полный текст:57
    Литература:27
    Первая стр.:11
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020