RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2016, том 46, номер 10, страницы 903–910 (Mi qe16479)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Воздействие лазерного излучения на вещество

Исследование формирования микрорельефа на поверхностях кристаллов ZnSe и CdSe при абляции излучением эксимерного KrF-лазера

С. К. Вартапетовa, А. В. Захряпаb, В. И. Козловскийcd, Ю. В. Коростелинc, В. А. Михайловa, Ю. П. Подмарьковc, И. Ю. Порофеевa, Д. Е. Свиридовc, Я. К. Скасырскийc, М. П. Фроловc, И. М. Юткинb

a Центр физического приборостроения Института общей физики им. А. М. Прохорова РАН, г. Троицк Московской обл.
b Российский федеральный ядерный центр — Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики, г. Саров Нижегородской обл.
c Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва
d Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Аннотация: На поверхностях кристаллов CdSe и ZnSe были сформированы одномерные решетки с периодом 0.5–2.3 мкм при абляции двумя интерферирующими пучками излучения наносекундного эксимерного KrF-лазера. Исследованы зависимости формы и глубины решетки от плотности энергии при облучении одиночным импульсом, а также от числа импульсов при заданной плотности энергии. Максимальная глубина решетки составила ~0.57 периода. Путем нанесения одномерной решетки с периодом 1.5 мкм и глубиной 0.53 мкм на поверхность кристалла CdSe получено просветление этой поверхности на длине волны 4 мкм. Отражение от поверхности уменьшилось на 88%. Продемонстрирована возможность нанесения двумерных решеток с периодами 1 и 1.5 мкм.

Ключевые слова: просветляющий микрорельеф поверхности, средний ИК диапазон, кристаллы A2B6, лазерная абляция, эксимерный KrF-лазер.

Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации
Работа выполнена при частичной поддержке Программы повышения конкурентоспособности НИЯУ “МИФИ”.

Автор для корреспонденции

Полный текст: PDF файл (3407 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2016, 46:10, 903–910

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
Поступила в редакцию: 09.06.2016

Образец цитирования: С. К. Вартапетов, А. В. Захряпа, В. И. Козловский, Ю. В. Коростелин, В. А. Михайлов, Ю. П. Подмарьков, И. Ю. Порофеев, Д. Е. Свиридов, Я. К. Скасырский, М. П. Фролов, И. М. Юткин, “Исследование формирования микрорельефа на поверхностях кристаллов ZnSe и CdSe при абляции излучением эксимерного KrF-лазера”, Квантовая электроника, 46:10 (2016), 903–910 [Quantum Electron., 46:10 (2016), 903–910]

Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/qe16479
  • http://mi.mathnet.ru/rus/qe/v46/i10/p903

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. A. A. Mikhneva, A. I. Gribaev, S. V. Varzhel', E. A. Frolov, V. A. Novikova, K. A. Konnov, Yu. K. Zalesskaya, J. Opt. Technol., 85:9 (2018), 531–534  crossref  isi  scopus
    2. Bushunov A.A. Tarabrin M.K. Lazarev V.A. Karasik V.E. Korostelin V Yu. Frolov M.P. Skasyrsky Ya.K. Kozlovsky I V., Opt. Mater. Express, 9:4 (2019), 1689–1697  crossref  isi  scopus
  • Квантовая электроника Quantum Electronics
    Просмотров:
    Эта страница:136
    Полный текст:17
    Литература:21
    Первая стр.:12
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020