RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2017, том 47, номер 8, страницы 757–761 (Mi qe16652)  

Электронная микроскопия

Сканирующая фотоэлектронная микроскопия с использованием острого зонда-капилляра

Б. Н. Миронов, А. П. Черкун, С. А. Асеев, С. В. Чекалин

Институт спектроскопии РАН, г. Троицк

Аннотация: Экспериментально продемонстрированы возможности нового типа сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) для двух различных образцов. Метод основан на использовании острого капилляра, который может одновременно выступать как "классический" зонд в СЗМ, так и управляемый тонкий канал для транспортировки к детектору испущенных поверхностью заряженных частиц. В эксперименте фотоэлектроны пропущены сквозь диэлектрический полый конический зонд с радиусом апертуры 1 мкм и зарегистрированы микроканальными пластинами в разных точках исследуемой проводящей поверхности, облученной второй гармоникой фемтосекундного титан-сапфирового лазера. В результате удалось визуализировать профиль поверхности образца с субволновым пространственным разрешением. Данный метод позволяет контролируемо перемещать пространственно-локализованные пучки электронов, ионов, нейтральных атомов (молекул), мягкого рентгеновского излучения и открывает возможности для исследований в области нанолокальной фотодесорбции молекулярных ионов.

Ключевые слова: фемтосекундное лазерное излучение, фотоэлектронная микроскопия, зонд-капилляр.

Финансовая поддержка Номер гранта
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Работа выполнена при частичной поддержке программы фундаментальных исследований Президиума РАН № 2 “Актуальные проблемы физики низких температур”.

Автор для корреспонденции

Полный текст: PDF файл (602 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2017, 47:8, 757–761

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
Поступила в редакцию: 27.02.2017

Образец цитирования: Б. Н. Миронов, А. П. Черкун, С. А. Асеев, С. В. Чекалин, “Сканирующая фотоэлектронная микроскопия с использованием острого зонда-капилляра”, Квантовая электроника, 47:8 (2017), 757–761 [Quantum Electron., 47:8 (2017), 757–761]

Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/qe16652
  • http://mi.mathnet.ru/rus/qe/v47/i8/p757

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Квантовая электроника Quantum Electronics
    Просмотров:
    Эта страница:110
    Полный текст:2
    Литература:12
    Первая стр.:12
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020