RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1994, том 21, номер 11, страницы 1087–1089 (Mi qe233)  

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Электронно-рентгеновский метод измерения локальной плотности в импульсных эрозионных факелах

Е. С. Воронель, Л. И. Кузнецов, М. В. Парфенов, В. Н. Ярыгин

Институт теплофизики СО РАН, Новосибирск

Аннотация: Рассмотрен электронно-пучковый метод измерения локальной плотности разреженного газа и способы его адаптации для диагностики импульсных эрозионных факелов, возникающих при интенсивном лазерном испарении твердой поверхности. Описана схема измерений, на примере эрозионного факела миллисекундной длительности свинцовой мишени обсуждаются результаты измерений плотности.

Полный текст: PDF файл (181 kB)

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 1994, 24:11, 1010–1012

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
PACS: 61.80.Ba, 06.30.Dr
Поступила в редакцию: 29.03.1994

Образец цитирования: Е. С. Воронель, Л. И. Кузнецов, М. В. Парфенов, В. Н. Ярыгин, “Электронно-рентгеновский метод измерения локальной плотности в импульсных эрозионных факелах”, Квантовая электроника, 21:11 (1994), 1087–1089 [Quantum Electron., 24:11 (1994), 1010–1012]

Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/qe233
  • http://mi.mathnet.ru/rus/qe/v21/i11/p1087

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Квантовая электроника Quantum Electronics
    Просмотров:
    Эта страница:66
    Полный текст:48
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020