RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1997, том 24, номер 5, страницы 467–470 (Mi qe961)  

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Томографические методы исследования векторных полей с применением оптоволоконных измерительных систем

Ю. Н. Кульчин, О. Б. Витрик, Р. В. Ромашко, Ю. С. Петров, О. В. Кириченко, О. Т. Каменев

Дальневосточный государственный технический университет, г. Владивосток

Аннотация: Исследована задача томографического восстановления векторных физических полей по наборам контурных интегралов от проекции вектора и проекции производной вектора по направлению. Показано, что такое восстановление возможно при использовании волоконно-оптических измерительных линий. В случаях, когда выходной сигнал пропорционален интегралу от проекции исследуемого вектора, используются измерительные линии в виде узкой петли, при этом решение задачи сводится к применению интегральных теорем. Если же выходной сигнал пропорционален интегралу от проекции производной вектора по направлению (задача о деформируемом двумерном объекте), то необходимо использовать измерительные линии ступенчатой формы; при этом восстановлению подлежит потенциальная составляющая поля.

Полный текст: PDF файл (208 kB)

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 1997, 27:5, 455–458

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья
PACS: 42.81.Pa, 07.60.Vg
Поступила в редакцию: 17.10.1996

Образец цитирования: Ю. Н. Кульчин, О. Б. Витрик, Р. В. Ромашко, Ю. С. Петров, О. В. Кириченко, О. Т. Каменев, “Томографические методы исследования векторных полей с применением оптоволоконных измерительных систем”, Квантовая электроника, 24:5 (1997), 467–470 [Quantum Electron., 27:5 (1997), 455–458]

Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/qe961
  • http://mi.mathnet.ru/rus/qe/v24/i5/p467

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Ю. Н. Кульчин, УФН, 173:8 (2003), 894–899  mathnet  crossref; Yu. N. Kulchin, Phys. Usp., 46:8 (2003), 867–872  crossref  isi
    2. Ю. Н. Кульчин, А. Ю. Ким, Пробл. управл., 5 (2006), 52–57  mathnet
    3. Romashko R.V. Bezruk M.N. Ermolaev S.A. Storozhenko D.A. Kulchin Yu.N., Asia-Pacific Conference on Fundamental Problems of Opto- and Microelectronics, Proceedings of Spie, 10176, ed. Kulchin Y. Romashko R. Syuy A., Spie-Int Soc Optical Engineering, 2017, UNSP 1017612  crossref  isi  scopus
  • Квантовая электроника Quantum Electronics
    Просмотров:
    Эта страница:130
    Полный текст:60
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020