RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Подписка
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Теория вероятн. и ее примен.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Теория вероятн. и ее примен., 1965, том 10, выпуск 3, страницы 536–539 (Mi tvp550)  

Краткие сообщения

О вторых моментах одной оценки спектральной функции

М. П. Шайфер

г. Ленинград

Полный текст: PDF файл (845 kB)

Англоязычная версия:
Theory of Probability and its Applications, 1965, 10:3, 487–489

Реферативные базы данных:

Поступила в редакцию: 08.09.1964

Образец цитирования: М. П. Шайфер, “О вторых моментах одной оценки спектральной функции”, Теория вероятн. и ее примен., 10:3 (1965), 536–539; Theory Probab. Appl., 10:3 (1965), 487–489

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Sha65}
\by М.~П.~Шайфер
\paper О вторых моментах одной оценки спектральной функции
\jour Теория вероятн. и ее примен.
\yr 1965
\vol 10
\issue 3
\pages 536--539
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvp550}
\mathscinet{http://www.ams.org/mathscinet-getitem?mr=189132}
\zmath{https://zbmath.org/?q=an:0168.17302}
\transl
\jour Theory Probab. Appl.
\yr 1965
\vol 10
\issue 3
\pages 487--489
\crossref{https://doi.org/10.1137/1110058}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/tvp550
  • http://mi.mathnet.ru/rus/tvp/v10/i3/p536

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Теория вероятностей и ее применения Theory of Probability and its Applications
    Просмотров:
    Эта страница:107
    Полный текст:57
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020