RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


ТВТ, 2001, том 39, выпуск 2, страницы 225–228 (Mi tvt1878)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Исследование плазмы

Исследование электрофизических характеристик элегаза. Влияние приэлектродных слоев на точность измерений

А. Е. Дубинов, В. А. Летягин, К. Е. Михеев, Б. Г. Птицын, С. А. Садовой, В. Д. Селемир

Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики Российского федерального ядерного центра, г. Саров

Аннотация: Рассмотрено влияние приэлектродных слоев объемного заряда на точность определения напряженности электрического поля в ионизационной камере, описанной в первой части статьи [1]. Показано, что ошибка в измерениях при давлениях элегаза от $10$ до $100$ Тор не превышала $3%$.

Полный текст: PDF файл (860 kB)

Англоязычная версия:
High Temperature, 2001, 39:2, 205–208

Тип публикации: Статья
УДК: 533.93+621.315.618.9
Поступила в редакцию: 20.01.2000

Образец цитирования: А. Е. Дубинов, В. А. Летягин, К. Е. Михеев, Б. Г. Птицын, С. А. Садовой, В. Д. Селемир, “Исследование электрофизических характеристик элегаза. Влияние приэлектродных слоев на точность измерений”, ТВТ, 39:2 (2001), 225–228; High Temperature, 39:2 (2001), 205–208

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DubLetMik01}
\by А.~Е.~Дубинов, В.~А.~Летягин, К.~Е.~Михеев, Б.~Г.~Птицын, С.~А.~Садовой, В.~Д.~Селемир
\paper Исследование электрофизических характеристик элегаза. Влияние приэлектродных слоев на точность измерений
\jour ТВТ
\yr 2001
\vol 39
\issue 2
\pages 225--228
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt1878}
\transl
\jour High Temperature
\yr 2001
\vol 39
\issue 2
\pages 205--208
\crossref{https://doi.org/10.1023/A:1017562513979}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/tvt1878
  • http://mi.mathnet.ru/rus/tvt/v39/i2/p225

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. Wang X. Zhong L. Rong M. Yang A. Liu D. Wu Y. Miao S., “Dielectric Breakdown Properties of Hot Sf6 Gas Contaminated By Copper At Temperatures of 300-3500 K”, J. Phys. D-Appl. Phys., 48:15 (2015), 155205  crossref  isi  elib
  • Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Просмотров:
    Эта страница:74
    Полный текст:44
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020