RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


ТВТ, 1968, том 6, выпуск 3, страницы 416–420 (Mi tvt5512)  

Исследование плазмы

Сечения фотоионизации лития

X. Б. Гезалов, А. В. Иванова

Институт химической физики Академии наук СССР

Аннотация: Методом самосогласованного поля с учетом обмена выполнен расчет сечений фотоионизации лития для основного и десяти первых возбужденных состояний в интервале длин волн от $300$ до $22 300$ Å. Результаты для основного состояния удовлетворительно согласуются с экспериментальными данными, известными в области $2300$$1150$ Å, и с результатами, вычисленными ранее тем же методом и методом квантового дефекта в спектральной области от $2300$ до $1800$ Å. Для возбужденных состояний лития расчет подобным методом выполнен впервые.

Полный текст: PDF файл (331 kB)
Тип публикации: Статья
УДК: 537.56
Поступила в редакцию: 15.03.1967

Образец цитирования: X. Б. Гезалов, А. В. Иванова, “Сечения фотоионизации лития”, ТВТ, 6:3 (1968), 416–420

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Iva68}
\by X.~Б.~Гезалов, А.~В.~Иванова
\paper Сечения фотоионизации лития
\jour ТВТ
\yr 1968
\vol 6
\issue 3
\pages 416--420
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt5512}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/tvt5512
  • http://mi.mathnet.ru/rus/tvt/v6/i3/p416

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Просмотров:
    Эта страница:49
    Полный текст:23
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020