RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


ТВТ, 1965, том 3, выпуск 2, страницы 253–259 (Mi tvt7943)  

Теплофизические свойства веществ

Некоторые вопросы термодинамики критической точки. III. О кривизне линии насыщения в критической точке

В. В. Сычев

Научно-исследовательский институт высоких температур

Аннотация: На основе существующих опытных данных по теплоемкости $c_v$ в око­локритической области отмечается, что кривизна линии насыщения в критической точке равна нулю. Сделаны заключения о необоснованно­сти некоторых новых теорий критической точки.

Полный текст: PDF файл (295 kB)
Тип публикации: Статья
УДК: 536.441:53.02
Поступила в редакцию: 12.08.1964

Образец цитирования: В. В. Сычев, “Некоторые вопросы термодинамики критической точки. III. О кривизне линии насыщения в критической точке”, ТВТ, 3:2 (1965), 253–259

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Syc65}
\by В.~В.~Сычев
\paper Некоторые вопросы термодинамики критической точки. III. О кривизне линии насыщения в критической точке
\jour ТВТ
\yr 1965
\vol 3
\issue 2
\pages 253--259
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt7943}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/tvt7943
  • http://mi.mathnet.ru/rus/tvt/v3/i2/p253

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles
  • Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Просмотров:
    Эта страница:62
    Полный текст:47
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020