RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки, 2014, том 156, книга 3, страницы 110–115 (Mi uzku1270)  

Эта публикация цитируется в 10 научных статьях (всего в 10 статьях)

О синтезе контактных схем, допускающих короткие проверяющие тесты

Д. С. Романов

Кафедра математической кибернетики, Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, г. Москва, Россия

Аннотация: В статье установлено, что для произвольной отличной от константы булевой функции $f(x_1,…,x_n)$ существуют допускающие единичный проверяющий тест линейной по $n$ длины тестопригодные
а) трехполюсная контактная схема (с одним входным и двумя выходными полюсами), реализующая систему функций $(f,\bar f)$,
б) двухполюсная контактная схема, реализующая функцию $f(x_1,…,x_n)\oplus x_{n+1}$.
Доказано также, что почти все булевы функции $f(x_1,…,x_n)$ реализуемы двухполюсными контактными схемами, обладающими коротким проверяющим тестом (тестом длины $O(n)$) относительно однотипных неисправностей контактов.

Ключевые слова: булева функция, контактная схема, проверяющий тест.

Полный текст: PDF файл (453 kB)
Список литературы: PDF файл   HTML файл
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718
Поступила в редакцию: 18.08.2014

Образец цитирования: Д. С. Романов, “О синтезе контактных схем, допускающих короткие проверяющие тесты”, Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки, 156, № 3, Изд-во Казанского ун-та, Казань, 2014, 110–115

Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Rom14}
\by Д.~С.~Романов
\paper О синтезе контактных схем, допускающих короткие проверяющие тесты
\serial Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки
\yr 2014
\vol 156
\issue 3
\pages 110--115
\publ Изд-во Казанского ун-та
\publaddr Казань
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/uzku1270}


Образцы ссылок на эту страницу:
  • http://mi.mathnet.ru/uzku1270
  • http://mi.mathnet.ru/rus/uzku/v156/i3/p110

    ОТПРАВИТЬ: VKontakte.ru FaceBook Twitter Mail.ru Livejournal Memori.ru


    Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles

    Эта публикация цитируется в следующих статьяx:
    1. К. А. Попков, “О тестах замыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 28:1 (2016), 87–100  mathnet  crossref  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Tests of contact closure for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 26:5 (2016), 299–308  crossref  isi
    2. К. А. Попков, “О тестах замыкания для контактных схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 014, 20 с.  mathnet
    3. К. А. Попков, “О проверяющих тестах размыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 66–86  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “On fault detection tests of contact break for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 28:6 (2018), 369–383  crossref  isi
    4. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 197, 24 с.  mathnet  crossref  elib
    5. К. А. Попков, “О диагностических тестах размыкания для контактных схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 271, 24 с.  mathnet  crossref  elib
    6. К. А. Попков, “О диагностических тестах размыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 31:2 (2019), 123–142  mathnet  crossref  elib; K. A. Popkov, “On diagnostic tests of contact break for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 30:2 (2020), 103–116  crossref  isi
    7. К. А. Попков, “Короткие единичные проверяющие тесты для контактных схем при обрывах и замыканиях контактов”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 23:3 (2019), 97–130  mathnet
    8. К. А. Попков, “Короткие тесты замыкания для контактных схем”, Матем. заметки, 107:4 (2020), 591–603  mathnet  crossref; K. A. Popkov, “Short Tests of Closures for Contact Circuits”, Math. Notes, 107:4 (2020), 653–662  crossref  isi  elib
    9. К. А. Попков, “Короткие единичные диагностические тесты для контактных схем при обрывах и замыканиях контактов”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 24:1 (2020), 143–152  mathnet
    10. К. А. Попков, “Оценки функций Шеннона длин тестов замыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 32:3 (2020), 49–67  mathnet  crossref
  • Ученые записки Казанского университета. Серия Физико-математические науки
    Просмотров:
    Эта страница:131
    Полный текст:40
    Литература:30
     
    Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2020