 |
|
|
|
|
|
Стабилизация вычислительных алгоритмов определения свойств тонкопленочных оптических покрытий А. В. Тихонравов, М. К. Трубецков Научно-исследовательский вычислительный центр Московского государственного университета имени М. В. Ломоносова Аннотация: Разработка устойчивых вычислительных алгоритмов для определения свойств тонкопленочных оптических покрытий играет ключевую роль для успешного их применения во многих передовых областях технологии. Настоящая статья представляет общую идею, позволяющую разрабатывать эффективные с вычислительной точки зрения и устойчивые алгоритмы определения свойств покрытий для практически всех современных производственных процессов, используемых для изготовления оптических покрытий. Эффективность одного из таких алгоритмов демонстрируется с использованием новой исследовательской методологии, названной вычислительным производством. Ключевые слова: многослойные покрытия, проектирование покрытий, вычислительное производство, тонкие пленки, стабилизация multilayer coatings; coating design and characterization; computation manufacturing; thin films; stabilization.  Полный текст:
PDF файл (355 kB)
УДК: 538.975; 621.382.13:535 Образец цитирования: А. В. Тихонравов, М. К. Трубецков, “Стабилизация вычислительных алгоритмов определения свойств тонкопленочных оптических покрытий”, Выч. мет. программирование, 6:1 (2005), 
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{TikTru05}Образцы ссылок на эту страницу:
Citing articles on Google Scholar: Russian citations, English citations Related articles on Google Scholar: Russian articles, English articles |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
Обратная связь: |
 Пользовательское соглашение
|
Регистрация |
Логотипы |
|