| Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
|
2020 |
| 1. |
А. Н. Нечай, С. А. Гарахин, А. Я. Лопатин, В. Н. Полковников, Д. Г. Реунов, Н. Н. Салащенко, М. Н. Торопов, Н. И. Чхало, Н. Н. Цыбин, “Эффективность генерации излучения в полосе 8–14 нм ионами криптона при импульсном лазерном возбуждении”, Квантовая электроника, 50:4 (2020), 408–413   [A. N. Nechai, S. A. Garakhin, A. Ya. Lopatin, V. N. Polkovnikov, D. G. Reunov, N. N. Salashchenko, M. N. Toropov, N. I. Chkhalo, N. N. Tsybin, “Lasing efficiency of krypton ions in the (8–14)-nm band upon pulsed laser excitation”, Quantum Electron., 50:4 (2020), 408–413   ] |
| 2. |
М. М. Барышева, И. В. Малышев, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало, “Особенности применения многослойных зеркал для фокусировки и коллимации рентгеновского излучения источников на основе обратного комптоновского рассеяния”, Квантовая электроника, 50:4 (2020), 401–407 [M. M. Barysheva, I. V. Malyshev, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, N. I. Chkhalo, “Features of multilayer mirror application for focusing and collimating X-rays from inverse Compton scattering sources”, Quantum Electron., 50:4 (2020), 401–407 ] |
| 3. |
Н. И. Чхало, И. В. Малышев, А. Е. Пестов, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. Н. Торопов, “Рентгеновская оптика дифракционного качества: технология, метрология, применения”, УФН, 190:1 (2020), 74–91 ; N. I. Chkhalo, I. V. Malyshev, A. E. Pestov, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. N. Toropov, “Diffraction limited X-ray optics: technology, metrology, applications”, Phys. Usp., 63:1 (2020), 67–82 |
|
2019 |
| 4. |
М. М. Барышева, С. А. Гарахин, С. Ю. Зуев, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало, С. Юлин, “Сравнение подходов в изготовлении широкополосных зеркал для ЭУФ диапазона: апериодические и стековые структуры”, Квантовая электроника, 49:4 (2019), 380–385 [M. M. Barysheva, S. A. Garakhin, S. Yu. Zuev, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, N. I. Chkhalo, S. Yulin, “Comparison of approaches in the manufacture of broadband mirrors for the EUV range: aperiodic and stack structures”, Quantum Electron., 49:4 (2019), 380–385 ] |
|
2017 |
| 5. |
С. А. Гарахин, И. Г. Забродин, С. Ю. Зуев, И. А. Каськов, А. Я. Лопатин, А. Н. Нечай, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало, М. В. Свечников, “Лабораторный рефлектометр для исследования оптических элементов в диапазоне длин волн 5 – 50 нм: описание и результаты тестирования”, Квантовая электроника, 47:4 (2017), 385–392 [S. A. Garakhin, I. G. Zabrodin, S. Yu. Zuev, I. A. Kas'kov, A. Ya. Lopatin, A. N. Nechai, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. N. Tsybin, N. I. Chkhalo, M. V. Svechnikov, “Laboratory reflectometer for the investigation of optical elements in a wavelength range of 5 – 50 nm: description and testing results”, Quantum Electron., 47:4 (2017), 385–392 ] |
| 6. |
С. А. Гарахин, Е. Н. Мельчаков, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, “Влияние структурных дефектов апериодических многослойных зеркал на свойства отраженных (суб)фемтосекундных импульсов”, Квантовая электроника, 47:4 (2017), 378–384 [S. A. Garakhin, E. N. Meltchakov, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, “Effect of structural defects of aperiodic multilayer mirrors on the properties of reflected (sub)femtosecond pulses”, Quantum Electron., 47:4 (2017), 378–384 ] |
|
2016 |
| 7. |
П. К. Гайкович, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, Ф. Шеферс, А. Соколов, “Влияние шероховатостей, детерминированных и случайных ошибок в толщинах пленок на отражательные характеристики апериодических зеркал для ЭУФ диапазона”, Квантовая электроника, 46:5 (2016), 406–413 [P. K. Gaikovich, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, F. Schäfers, A. Sokolov, “Effect of roughness, deterministic and random errors in film thickness on the reflecting properties of aperiodic mirrors for the EUV range”, Quantum Electron., 46:5 (2016), 406–413 ] |
| 8. |
А. Н. Нечай, А. Е. Пестов, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. Н. Торопов, Н. И. Чхало, Н. Н. Цыбин, А. В. Щербаков, “Рентгенооптическая система для получения изображения лазерного факела с пространственным разрешением до 70 нм”, Квантовая электроника, 46:4 (2016), 347–352 [A. N. Nechai, A. E. Pestov, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. N. Toropov, N. I. Chkhalo, N. N. Tsybin, A. V. Shcherbakov, “X-ray optical system for imaging laser plumes with a spatial resolution of up to 70 nm”, Quantum Electron., 46:4 (2016), 347–352 ] |
|
2012 |
| 9. |
П. Н. Аруев, М. М. Барышева, Б. Я. Бер, Н. В. Забродская, В. В. Забродский, А. Я. Лопатин, А. Е. Пестов, М. В. Петренко, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, В. Л. Суханов, Н. И. Чхало, “Кремниевый фотодиод для экстремального ультрафиолетового диапазона спектра с селективным Zr/Si-покрытием”, Квантовая электроника, 42:10 (2012), 943–948 [P. N. Aruev, M. M. Barysheva, B. Ya. Ber, N. V. Zabrodskaya, V. V. Zabrodskii, A. Ya. Lopatin, A. E. Pestov, M. V. Petrenko, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, V. L. Sukhanov, N. I. Chkhalo, “Silicon photodiode with selective Zr/Si coating for extreme ultraviolet spectral range”, Quantum Electron., 42:10 (2012), 943–948 ] |
|
|
|
2020 |
| 10. |
В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало, “Многослойная рентгеновская оптика на основе бериллия”, УФН, 190:1 (2020), 92–106 ; V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, N. I. Chkhalo, “Beryllium-based multilayer X-ray optics”, Phys. Usp., 63:1 (2020), 83–95 |
|
Пользовательское соглашение