RUS  ENG ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ
 
Попков Кирилл Андреевич

В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 33
Научных статей: 33

Статистика просмотров:
Эта страница:283
Страницы публикаций:1962
Полные тексты:264
Списки литературы:349
научный сотрудник
кандидат физико-математических наук
E-mail:
Ключевые слова: контакт, функциональный элемент, контактная схема, схема из функциональных элементов, неисправность, проверяющий тест, диагностический тест

Основные темы научной работы

Тесты для контактов и функциональных элементов, тесты для контактных схем и схем из функциональных элементов


http://www.mathnet.ru/rus/person87435
Список публикаций на Google Scholar
Список публикаций на ZentralBlatt

Публикации в базе данных Math-Net.Ru
2019
1. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 26:1 (2019),  89–113  mathnet
2. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, ПДМ, 2019, 43,  78–100  mathnet
2018
3. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018),  62–81  mathnet  elib; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312  scopus
4. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018),  99–116  mathnet  elib
5. К. А. Попков, “О диагностических тестах размыкания для контактных схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 271, 24 стр.  mathnet
6. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 197, 24 стр.  mathnet
7. К. А. Попков, “Минимальные полные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в стандартном базисе”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 161, 7 стр.  mathnet
8. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 149, 32 стр.  mathnet
9. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при однотипных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 087, 18 стр.  mathnet
10. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 033, 23 стр.  mathnet
11. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при однотипных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 22:3 (2018),  131–147  mathnet
12. К. А. Попков, “Полные диагностические тесты длины $2$ для схем при инверсных неисправностях функциональных элементов”, Тр. МИАН, 301 (2018),  219–224  mathnet  elib; K. A. Popkov, “Complete diagnostic length $2$ tests for logic networks under inverse faults of logic gates”, Proc. Steklov Inst. Math., 301 (2018), 207–212  isi  elib  scopus
2017
13. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017),  80–103  mathnet  elib; K. A. Popkov, “On the exact value of the length of the minimal single diagnostic test for a particular class of circuits”, J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443  scopus
14. К. А. Попков, “О проверяющих тестах размыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 29:4 (2017),  66–86  mathnet  elib; K. A. Popkov, “On fault detection tests of contact break for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 28:6 (2018), 369–383  isi  scopus
15. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017),  53–69  mathnet  elib; K. A. Popkov, “Lower bounds for lengths of single tests for Boolean circuits”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33  isi  scopus
16. К. А. Попков, “Полные диагностические тесты длины два для схем при инверсных неисправностях функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 105, 10 стр.  mathnet
17. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 104, 16 стр.  mathnet
18. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе «конъюнкция-отрицание»”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 030, 31 стр.  mathnet
19. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание””, ПДМ, 2017, 38,  66–88  mathnet
2016
20. К. А. Попков, “О тестах замыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 28:1 (2016),  87–100  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Tests of contact closure for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 26:5 (2016), 299–308  isi  scopus
21. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 139, 21 стр.  mathnet
22. К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 060, 12 стр.  mathnet
23. К. А. Попков, “О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 050, 16 стр.  mathnet
24. К. А. Попков, “О тестах замыкания для контактных схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 014, 20 стр.  mathnet
25. К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, ПДМ, 2016, 4(34),  65–73  mathnet
2015
26. К. А. Попков, “Оценки длин тестов для функциональных элементов при большом числе допустимых неисправностей”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 22:5 (2015),  52–70  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Estimations on lengths of tests of functional elements under a large number of permissible faults”, J. Appl. Industr. Math., 9:4 (2015), 559–569
27. К. А. Попков, “О единичных тестах для функциональных элементов”, Дискрет. матем., 27:2 (2015),  73–93  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Single tests for logical gates”, Discrete Math. Appl., 25:6 (2015), 367–382  isi  scopus
28. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2015, 074, 20 стр.  mathnet
29. К. А. Попков, “О единичных тестах для контактов”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2015, 5,  13–18  mathnet  mathscinet; K. A. Popkov, “Single tests for contacts”, Moscow University Mathematics Bulletin, 70:5 (2015), 208–212  scopus
2014
30. К. А. Попков, “Оценки длин проверяющих и диагностических тестов для функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 21:6 (2014),  73–89  mathnet  mathscinet
31. К. А. Попков, “Проверяющие и диагностические тесты для функциональных элементов”, Дискрет. матем., 26:2 (2014),  83–99  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Fault detection and diagnostic tests for logic gates”, Discrete Math. Appl., 24:4 (2014), 213–225  scopus
32. К. А. Попков, “Проверяющие и диагностические тесты для конъюнкторов, дизъюнкторов и инверторов”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2014, 6,  40–44  mathnet  mathscinet; K. A. Popkov, “Check and diagnostic tests for AND, OR, and NOT gates”, Moscow University Mathematics Bulletin, 69:6 (2014), 267–271  scopus
2013
33. К. А. Попков, “Диагностика состояний контактов”, Дискрет. матем., 25:4 (2013),  30–40  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “The diagnosis of states of contacts”, Discrete Math. Appl., 23:5-6 (2013), 479–489  scopus

Организации
 
Обратная связь:
 Пользовательское соглашение  Регистрация  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2019