О совмещенных схемах для функционального и тестового диагностирования дискретных устройств

Предложен способ построения встроенной схемы, подключаемой к заданному комбинационному или последовательностному дискретному устройству (ДУ). Схема совмещает возможности проведения и функционального и тестового диагностирования ДУ. Показано, что предложенный способ, основанный на использовании принципа распределенной избыточности, в некоторых случаях позволяет достичь более экономной реализации схемы по сравнению с реализацией, основанной на принципе автономной избыточности.