Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Computational nanotechnology, 2022, том 9, выпуск 4, страницы 63–69
DOI: https://doi.org/10.33693/2313-223X-2022-9-4-63-69
(Mi cn397)
 

МЕТОДЫ И СИСТЕМЫ ЗАЩИТЫ ИНФОРМАЦИИ, ИНФОРМАЦИОННАЯ БЕЗОПАСНОСТЬ

Учет многолучевости при моделировании поля побочного электромагнитного излучения на объектах информатизации

А. В. Бобровскихa, А. В. Гуреевa, В. П. Лосьb, А. С. Марковc

a Институт микроприборов и систем управления имени Л.Н. Преснухина Национального исследовательского университета «Московский институт электронной техники»
b МИРЭА - Российский технологический университет
c Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)
Аннотация: В работе рассматриваются особенности формирования результирующего поля побочного электромагнитного излучения на объектах информатизации с учетом многолучевости распространения радиоволн, проводится оценка достижимых значений ошибки определения коэффициента ослабления при использовании известных методик определения ослабления поля побочного электромагнитного излучения на основе детерминированной модели распространения радиоволн внутри здания. Показана необходимость существенной доработки методики определения коэффициента ослабления, поскольку в известном виде, она пригодна лишь для измерений в свободном пространстве и дает весьма существенные ошибки в условиях города и внутри зданий, или использования при приеме сигналов адаптивных способов приема (например, разнесенный прием), что позволяет существенно снизить уровень интерференционных провалов результирующей электродвижущей силы.
Ключевые слова: коэффициент ослабления, модель, ошибка, радиоволна, побочное электромагнитное излучение, поле.
Поступила в редакцию: 30.10.2022
Принята в печать: 09.12.2022
Тип публикации: Статья
УДК: 621.396
Образец цитирования: А. В. Бобровских, А. В. Гуреев, В. П. Лось, А. С. Марков, “Учет многолучевости при моделировании поля побочного электромагнитного излучения на объектах информатизации”, Comp. nanotechnol., 9:4 (2022), 63–69
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BobGurLos22}
\by А.~В.~Бобровских, А.~В.~Гуреев, В.~П.~Лось, А.~С.~Марков
\paper Учет многолучевости при моделировании поля побочного электромагнитного излучения на объектах информатизации
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2022
\vol 9
\issue 4
\pages 63--69
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn397}
\crossref{https://doi.org/10.33693/2313-223X-2022-9-4-63-69}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn397
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/v9/i4/p63
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Computational nanotechnology
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:52
    PDF полного текста:19
    Список литературы:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024