Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Computational nanotechnology, 2023, том 10, выпуск 1, страницы 67–78
DOI: https://doi.org/10.33693/2313-223X-2023-10-1-67-78 (Mi cn404) 		 
СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ, УПРАВЛЕНИЕ И ОБРАБОТКА ИНФОРМАЦИИ, СТАТИСТИКА

О сравнительной эффективности обнаружения разладки в многопараметрических технологических процессах с помощью многомерных двойных контрольных карт

А. Н. Чесалин, С. Я. Гродзенский, Н. Н. Ушкова, К. В. Болотин, А. В. Ставцев

МИРЭА — Российский технологический университет, г. Москва
PDF полного текста (1944 kB)
DOI: https://doi.org/10.33693/2313-223X-2023-10-1-67-78
Аннотация: Исследуется проблема обнаружения разладки в многопараметрических технологических процессах, имеющих нормальное распределение, и заключающейся в отклонении от заданного значения выборочного среднего и выборочной дисперсии. Рассматриваются различные виды контрольных карт, позволяющие эффективно обнаруживать одновременное изменение среднего значения и дисперсии в многопараметрических технологических процессах. Методом статистического моделирования, проводится анализ сравнительной эффективности контрольных карт, даются практические рекомендации.
Ключевые слова: многопараметрический технологический процесс, обнаружение разладки, многомерные двойные контрольные карты, статистический контроль технологических процессов, метод Монте-Карло, тепловые карты.
Финансовая поддержка
Работа выполнена в рамках инициативной НИР 186-ИИИ РТУ МИРЭА.
Поступила в редакцию: 18.02.2023
Принята в печать: 26.03.2023
Тип публикации: Статья
УДК: 519.237
Образец цитирования: А. Н. Чесалин, С. Я. Гродзенский, Н. Н. Ушкова, К. В. Болотин, А. В. Ставцев, “О сравнительной эффективности обнаружения разладки в многопараметрических технологических процессах с помощью многомерных двойных контрольных карт”, Comp. nanotechnol., 10:1 (2023), 67–78
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{CheGroUsh23}
\by А.~Н.~Чесалин, С.~Я.~Гродзенский, Н.~Н.~Ушкова, К.~В.~Болотин, А.~В.~Ставцев
\paper О сравнительной эффективности обнаружения разладки в многопараметрических технологических процессах с помощью многомерных двойных контрольных карт
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2023
\vol 10
\issue 1
\pages 67--78
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn404}
\crossref{https://doi.org/10.33693/2313-223X-2023-10-1-67-78}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn404
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/v10/i1/p67
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Computational nanotechnology
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:56
    PDF полного текста:49
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025