|
|
Компьютерная оптика, 2013, том 37, выпуск 3, страницы 326–331
(Mi co745)
|
|
|
|
ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ
Исследование поляризационной чувствительности ближнепольного микроскопа с использованием бинарной фазовой пластины
С. Н. Хонина, С. В. Алферов, С. В. Карпеев, О. Ю. Моисеев Институт систем обработки изображений РАН
Аннотация:
Проведены теоретические и экспериментальные исследования распределения компонент электрического поля в фокальной плоскости при вращении пластинки с фазовым скачком величиной p, помещённой в фокусируемый пучок. На основе сравнения теоретических и экспериментальных результатов проведён анализ поляризационной чувствительности различных апертурных металлизированных зондов. Показано, что с ростом диаметра открытой части заострённого конца зонда происходит существенное перераспределение чувствительности в пользу поперечных компонент электрического поля и рост коэффициента передачи сигнала через зонд.
Ключевые слова:
острая фокусировка, пластинка с фазовым скачком, компоненты электрического поля, ближнепольный сканирующий микроскоп, металлизированные апертурные зонды.
Поступила в редакцию: 08.06.2013
Образец цитирования:
С. Н. Хонина, С. В. Алферов, С. В. Карпеев, О. Ю. Моисеев, “Исследование поляризационной чувствительности ближнепольного микроскопа с использованием бинарной фазовой пластины”, Компьютерная оптика, 37:3 (2013), 326–331
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/co745 https://www.mathnet.ru/rus/co/v37/i3/p326
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 101 | | PDF полного текста: | 36 | | Список литературы: | 29 |
|