Компьютерная оптика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Компьютерная оптика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Компьютерная оптика, 2013, том 37, выпуск 3, страницы 326–331 (Mi co745)  

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Исследование поляризационной чувствительности ближнепольного микроскопа с использованием бинарной фазовой пластины

С. Н. Хонина, С. В. Алферов, С. В. Карпеев, О. Ю. Моисеев

Институт систем обработки изображений РАН
Список литературы:
Аннотация: Проведены теоретические и экспериментальные исследования распределения компонент электрического поля в фокальной плоскости при вращении пластинки с фазовым скачком величиной p, помещённой в фокусируемый пучок. На основе сравнения теоретических и экспериментальных результатов проведён анализ поляризационной чувствительности различных апертурных металлизированных зондов. Показано, что с ростом диаметра открытой части заострённого конца зонда происходит существенное перераспределение чувствительности в пользу поперечных компонент электрического поля и рост коэффициента передачи сигнала через зонд.
Ключевые слова: острая фокусировка, пластинка с фазовым скачком, компоненты электрического поля, ближнепольный сканирующий микроскоп, металлизированные апертурные зонды.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 13-07-00266 а
13-07-97004-р_поволжье_а
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (гранты РФФИ 13-07-00266 и 13-07-97004-р_поволжье_а) и Министерства образования и науки Российской Федерации, ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России».
Поступила в редакцию: 08.06.2013
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. Н. Хонина, С. В. Алферов, С. В. Карпеев, О. Ю. Моисеев, “Исследование поляризационной чувствительности ближнепольного микроскопа с использованием бинарной фазовой пластины”, Компьютерная оптика, 37:3 (2013), 326–331
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KhoAlfKar13}
\by С.~Н.~Хонина, С.~В.~Алферов, С.~В.~Карпеев, О.~Ю.~Моисеев
\paper Исследование поляризационной чувствительности ближнепольного микроскопа с использованием бинарной фазовой пластины
\jour Компьютерная оптика
\yr 2013
\vol 37
\issue 3
\pages 326--331
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/co745}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/co745
  • https://www.mathnet.ru/rus/co/v37/i3/p326
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Компьютерная оптика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:101
    PDF полного текста:36
    Список литературы:29
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025