Влияние толщины монокристаллической пленки SrTiO$_3$ на ее структуру и диэлектрические параметры в диапазоне 0.3–1.5 THz

На подложках Al$_2$O$_3$(001) с использованием метода ВЧ катодного распыления выращены монокристаллические тонкие пленки титаната стронция (SrTiO$_3$, STO) различной толщины $(h)$: 60, 120 и 270 nm. С использованием рентгено-дифракционного анализа установлено, что все пленки STO характеризуются псевдокубической ячейкой и имеют близкую деформацию элементарной ячейки. С помощью метода импульсной терагерцовой спектроскопии показано, что в диапазоне частот 0.3–1.5 THz пленки характеризуются практически отсутствием дисперсии действительной $(\varepsilon')$ части диэлектрической проницаемости, но по мере снижения $h$ имеет место существенный рост $\varepsilon'$.