Бесконтактные измерения критических токов в сверхпроводящих пластинах и пленках

Исследована роль неоднородной намагниченности при магнитных измерениях критических токов в сверхпроводящих пленках и пластинах цилиндрической формы. Предложена методика определения плотности критического тока по измерениям магнитного поля, создаваемого экранирующими сверхтоками при переходе всего объема сверхпроводника в критическое состояние. В приближении Бина$-$Лондона получено выражение для плотности критического тока, в которое входят параметры кривой намагничивания. Показано, что учет неоднородной намагниченности, обусловленной пиннингом, особенно важен в том случае, когда измеряются критические токи в тонких пленках. На керамических образцах Y$-$Ва$-$Сu$-$О проведена экспериментальная проверка предлагаемой методики. Впервые получены полевые зависимости плотности критического тока для сверхпроводящей керамики Тl$-$Ва$-$Са$-$Сu$-$О.