Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2020, том 90, выпуск 11, страницы 1951–1957
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.11.49989.117-20 (Mi jtf5167) 		 
Эта публикация цитируется в 10 научных статьях (всего в 10 статьях)

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Физические приборы и методы эксперимента

Измерения контактной жесткости в атомно-силовом микроскопе

А. В. Анкудиновa, М. М. Халисовb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Институт физиологии им. И. П. Павлова РАН
PDF полного текста (1187 kB) Список цитирования (10) Английская версия
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.11.49989.117-20
Аннотация: Предложен способ повышения точности наномеханических измерений в атомно-силовом микроскопе. Для описания контактного взаимодействия кантилевера с образцом использована аналитическая модель, учитывающая: защемлен зонд кантилевера или скользит по поверхности образца, геометрические и механические характеристики образца и кантилевера, их взаимное расположение. В предположении скольжения разработан фильтр для корректировки сигналов контактной жесткости и деформации, измеряемых на образце с развитым рельефом. Применение фильтра проиллюстрировано на изображениях, полученных в атомно-силовом микроскопе с режимом визуализации на базе поточечной регистрации силового квазистатического взаимодействия зонда кантилевера с образцом.
Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, кантилевер, скользящий контакт зонд-образец, распределение деформации.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 19−13−00151
Исследование выполнено при поддержке Российского научного фонда, грант № 19−13−00151.
Поступила в редакцию: 03.04.2020
Исправленный вариант: 03.04.2020
Принята в печать: 03.04.2020
Английская версия:
Technical Physics, 2020, Volume 65, Issue 11, Pages 1866–1872
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784220110031
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Анкудинов, М. М. Халисов, “Измерения контактной жесткости в атомно-силовом микроскопе”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1951–1957; Tech. Phys., 65:11 (2020), 1866–1872
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AnkKha20}
\by А.~В.~Анкудинов, М.~М.~Халисов
\paper Измерения контактной жесткости в атомно-силовом микроскопе
\jour ЖТФ
\yr 2020
\vol 90
\issue 11
\pages 1951--1957
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5167}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2020.11.49989.117-20}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44588728}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2020
\vol 65
\issue 11
\pages 1866--1872
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784220110031}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5167
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i11/p1951
    • Эта публикация цитируется в следующих 10 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:322
    PDF полного текста:244
    Список литературы:1
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026