|
Журнал технической физики, 2024, том 94, выпуск 11, страницы 1843–1847 DOI: https://doi.org/10.61011/JTF.2024.11.59101.234-24
(Mi jtf6899)
|
|
|
|
Твердотельная электроника
Модель поведения МОП-структур при радиационно-термических обработках
О. В. Александров, С. А. Мокрушина Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина), 197376 Санкт-Петербург, Россия
DOI:
https://doi.org/10.61011/JTF.2024.11.59101.234-24
Аннотация:
Разработана количественная модель влияния радиационно-термических обработок на стойкость МОП-структур к ионизирующему облучению. В основе модели лежат реакции взаимодействия дырок, образующихся при ионизирующем облучении, с водородосодержащими и безводородными ловушками в подзатворном диэлектрике. Захват дырок водородосодержащими ловушками стимулирует разрыв водородной связи и превращение их в безводородные ловушки с меньшим сечением захвата. Модель позволила описать повышение радиационной стойкости МОП-структур при последовательных циклах облучение-отжиг при сохранении интегральной концентрации ловушек.
Ключевые слова:
МОП-структуры, радиационно-термические обработки, ионизирующее облучение, радиационная стойкость.
Поступила в редакцию: 15.07.2024 Исправленный вариант: 19.09.2024 Принята в печать: 26.09.2024
Образец цитирования:
О. В. Александров, С. А. Мокрушина, “Модель поведения МОП-структур при радиационно-термических обработках”, ЖТФ, 94:11 (2024), 1843–1847
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf6899 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v94/i11/p1843
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 53 | | PDF полного текста: | 54 |
|