|
|
Журнал технической физики, 2013, том 83, выпуск 10, страницы 139–142
(Mi jtf8598)
|
|
|
|
Краткие сообщения
Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами
С. А. Лященкоab, И. А. Тарасовab, С. Н. Варнаковab, Д. В. Шевцовab, В. А. Швецcd, В. Н. Заблудаa, С. Г. Овчинниковab, Н. Н. Косыревab, Г. В. Бондаренкоa, С. В. Рыхлицкийd a Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, г. Красноярск
b Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева, Красноярск
c Новосибирский государственный университет
d Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
Аннотация:
Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO$_2$. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.
Поступила в редакцию: 26.10.2012
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2013, Volume 58, Issue 10, Pages 1529–1532 DOI: https://doi.org/10.1134/S10637842131001
Образец цитирования:
С. А. Лященко, И. А. Тарасов, С. Н. Варнаков, Д. В. Шевцов, В. А. Швец, В. Н. Заблуда, С. Г. Овчинников, Н. Н. Косырев, Г. В. Бондаренко, С. В. Рыхлицкий, “Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами”, ЖТФ, 83:10 (2013), 139–142; Tech. Phys., 58:10 (2013), 1529–1532
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf8598 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v83/i10/p139
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 20 | | PDF полного текста: | 6 |
|