|
Математическое моделирование, 2003, том 15, номер 2, страницы 62–68
(Mi mm491)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Сканирующий атомно-силовой микроскоп
С. Ш. Рехвиашвили Научно-исследовательский институт прикладной математики и автоматизации Кабардино-Балкарского научного центра РАН
Аннотация:
Предложена методика математического моделирования атомно-силового микроскопа с учетом основных особенностей формирования сигнала в системе детектирования и блоке электроники прибора. С помощью численного эксперимента, выполненного по данной методике, проанализирована работа прибора. В расчетах сил взаимодействия использовался модельный потенциал, параметры которого оценивались в приближении электронного газа. Предложенная методика моделирования позволяет более корректно (с учетом характеристик конкретного прибора) интерпретировать экспериментальные результаты.
Поступила в редакцию: 07.08.2001
Образец цитирования:
С. Ш. Рехвиашвили, “Сканирующий атомно-силовой микроскоп”, Матем. моделирование, 15:2 (2003), 62–68
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/mm491 https://www.mathnet.ru/rus/mm/v15/i2/p62
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 969 | PDF полного текста: | 373 | Первая страница: | 2 |
|