|
|
Физика и техника полупроводников, 1988, том 22, выпуск 11, страницы 2039–2042
(Mi phts3127)
|
|
|
|
Определение профиля концентрации лития при его дрейфе в кремнии по
емкостным измерениям
В. М. Андреев, В. К. Еремин, Н. В. Строкан, Е. В. Шокина
Аннотация:
Стандартные вольтфарадные характеристики не
позволяют однозначно решать задачу восстановления профиля распределения
примесей в общем случае. Дополнительные условия ее решения вытекают
из модели $p{-}n$-перехода. В работе из свойств процесса переноса
в электрическом поле ионов лития выделены основные закономерности его
распределения в $n^{+}{-}i$ (Li)${-}p$-структуре. Показано,
что они позволяют восстанавливать распределение лития в $i$-области по
емкостным измерениям. Точность совпадения восстановленного профиля
с истинным оценена путем численного моделирования процесса дрейфа.
Приведены примеры обработки экспериментальных
$C(V)$-зависимостей для различных стадий дрейфа лития в кремнии.
Образец цитирования:
В. М. Андреев, В. К. Еремин, Н. В. Строкан, Е. В. Шокина, “Определение профиля концентрации лития при его дрейфе в кремнии по
емкостным измерениям”, Физика и техника полупроводников, 22:11 (1988), 2039–2042
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts3127 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v22/i11/p2039
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 75 | | PDF полного текста: | 52 |
|