|
|
Физика и техника полупроводников, 1992, том 26, выпуск 1, страницы 176–180
(Mi phts4571)
|
|
|
|
Краткие сообщения
Рекомбинация носителей заряда в термообработанном Si с различными типами ростовых микродефектов
И. И. Колковский, В. Ф. Латышенко, П. Ф. Лугаков, В. В. Шуша Институт прикладных физических проблем им. А. Н. Севченко Белорусского государственного университета, г. Минск
Поступила в редакцию: 30.05.1991 Принята в печать: 24.07.1991
Образец цитирования:
И. И. Колковский, В. Ф. Латышенко, П. Ф. Лугаков, В. В. Шуша, “Рекомбинация носителей заряда в термообработанном Si с различными типами ростовых микродефектов”, Физика и техника полупроводников, 26:1 (1992), 176–180
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts4571 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v26/i1/p176
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 79 | | PDF полного текста: | 35 |
|