Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2022, том 56, выпуск 6, страница 541
DOI: https://doi.org/10.21883/ftp.2022.06.52616.9821a
(Mi phts7054)
 

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Synchrotron radiation photoemission study of the electronic structure of the ultrathin K/AlN interface

G. V. Benemanskayaa, S. N. Timoshnevb, G. N. Iluridzec, T. A. Minashvilic

a Ioffe Institute, 194021 St. Petersburg, Russia
b Alferov University, 194021 St. Petersburg, Russia
c Georgian Technical University, 0175 Tbilisi, Georgia
Аннотация: The electronic structure of the clean AlN surface and the ultrathin K/AlN interface has been studied in situ by synchrotron-based photoelectron spectroscopy using the photon energies in the range of 100–650 eV. The effect of K adsorption was studied. Changes in the valence band and in the Al $2p$, N $1s$, and K $3p$ core levels spectra have been investigated using K submonolayer deposition. Modification of the surface electronic structure of the AlN caused by K adsorption is found to originate from the local interaction of N surface atoms and K adatoms. As a results the suppression of intrinsic surface state and appearance of a new induced state are observed. It was found the K-induced electron redistribution effect that causes the positive energy shift of N $1s$ surface peak and increasing N-ionicity.
Ключевые слова: III-nitrides, electronic structure, surface states, metal-III-nitride interfaces, photoelectron spectroscopy.
Поступила в редакцию: 25.02.2022
Исправленный вариант: 25.03.2022
Принята в печать: 25.03.2022
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: G. V. Benemanskaya, S. N. Timoshnev, G. N. Iluridze, T. A. Minashvili, “Synchrotron radiation photoemission study of the electronic structure of the ultrathin K/AlN interface”, Физика и техника полупроводников, 56:6 (2022), 541
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BenTimIlu22}
\by G.~V.~Benemanskaya, S.~N.~Timoshnev, G.~N.~Iluridze, T.~A.~Minashvili
\paper Synchrotron radiation photoemission study of the electronic structure of the ultrathin K/AlN interface
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2022
\vol 56
\issue 6
\pages 541
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7054}
\crossref{https://doi.org/10.21883/ftp.2022.06.52616.9821a}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=58328383}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7054
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v56/i6/p541
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:48
    PDF полного текста:12
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025