Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 3, страницы 376–378 (Mi phts8180)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Картирование усиления двухфотонной люминесценции в микроструктурах оксида цинка

С. В. Семинab, Н. Э. Шерстюкa, Е. Д. Мишинаa, К. Германc, Л. Кулюкc, T. Расингb, Л.-Х. Пенгd

a Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики, 119454 Москва, Россия
b Институт молекул и материалов, Университет Наймегена, 6525 НР Наймеген, Нидерланды
c Институт прикладной физики Академии наук Молдовы, MD2028 Кишинев, Республика Молдова
d Факультет электротехники и Институт фотоники и оптоэлектроники, Национальный университет Тайваня, 10617 Тайпей, Тайвань (КНР)
Аннотация: Приведены результаты экспериментального исследования в режиме картирования образца при комнатной температуре двухфотонной люминесценции в микроструктурах оксида цинка, представляющих собой свободно стоящие совокупности микростержней. Получены спектры двухфотонной люминесценции в экситонной области для отдельных микростержней. Степенна́я зависимость роста интенсивности люминесценции от мощности оптической накачки с показателем степени $n>$ 2 и наличие пороговой мощности, характеризующейся отклонением от квадратичной зависимости в экситонной области, свидетельствуют о возникновении усиления света в отдельном микростержне оксида цинка и условий, предшествующих лазерной генерации.
Поступила в редакцию: 05.09.2011
Принята в печать: 12.09.2011
Английская версия:
Semiconductors, 2012, Volume 46, Issue 3, Pages 360–362
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782612030189
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. В. Семин, Н. Э. Шерстюк, Е. Д. Мишина, К. Герман, Л. Кулюк, T. Расинг, Л.-Х. Пенг, “Картирование усиления двухфотонной люминесценции в микроструктурах оксида цинка”, Физика и техника полупроводников, 46:3 (2012), 376–378; Semiconductors, 46:3 (2012), 360–362
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SemSheMis12}
\by С.~В.~Семин, Н.~Э.~Шерстюк, Е.~Д.~Мишина, К.~Герман, Л.~Кулюк, T.~Расинг, Л.-Х.~Пенг
\paper Картирование усиления двухфотонной люминесценции в микроструктурах оксида цинка
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2012
\vol 46
\issue 3
\pages 376--378
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts8180}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319111}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2012
\vol 46
\issue 3
\pages 360--362
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782612030189}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts8180
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i3/p376
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:100
    PDF полного текста:56
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026