Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 1987, том 13, выпуск 15, страницы 937–941 (Mi pjtf584)  
Сканирующий туннельный микроскоп для исследования структурно неоднородных поверхностей

С. И. Васильев, В. Б. Леонов, В. И. Панов

Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова
PDF полного текста (453 kB)
Поступила в редакцию: 18.05.1987
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. И. Васильев, В. Б. Леонов, В. И. Панов, “Сканирующий туннельный микроскоп для исследования структурно неоднородных поверхностей”, Письма в ЖТФ, 13:15 (1987), 937–941
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{VasLeoPan87}
\by С.~И.~Васильев, В.~Б.~Леонов, В.~И.~Панов
\paper Сканирующий туннельный микроскоп для исследования структурно неоднородных поверхностей
\jour Письма в ЖТФ
\yr 1987
\vol 13
\issue 15
\pages 937--941
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf584}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf584
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v13/i15/p937
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:167
    PDF полного текста:136
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026