|
Письма в Журнал технической физики, 2016, том 42, выпуск 7, страницы 65–72
(Mi pjtf6460)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Воздействие импульсного вакуумно-дугового разряда на поверхность элементов разрядного устройства
В. И. Асюнин, С. А. Бушин, С. Г. Давыдов, А. Н. Долгов, А. В. Пилюшенко, А. А. Пшеничный, В. О. Ревазов, Р. Х. Якубов Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н. Л. Духова, г. Москва
Аннотация:
Методами визуализации структуры поверхности и рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа изучены закономерности эрозии и переноса вещества элементов разрядного устройства. Обнаружено влияние микрорельефа и окисной пленки, присутствующей на поверхности материала катода, на развитие дугового разряда в коммутаторе.
Поступила в редакцию: 30.11.2015
Образец цитирования:
В. И. Асюнин, С. А. Бушин, С. Г. Давыдов, А. Н. Долгов, А. В. Пилюшенко, А. А. Пшеничный, В. О. Ревазов, Р. Х. Якубов, “Воздействие импульсного вакуумно-дугового разряда на поверхность элементов разрядного устройства”, Письма в ЖТФ, 42:7 (2016), 65–72; Tech. Phys. Lett., 42:4 (2016), 368–371
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6460 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v42/i7/p65
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 40 | PDF полного текста: | 18 |
|