Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2015, том 41, выпуск 18, страницы 8–15 (Mi pjtf7830)  
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Картирование интенсивности излучения лазерного диода методом атомно-силовой микроскопии

П. А. Алексеевa, М. С. Дунаевскийab, С. О. Слипченкоa, А. А. Подоскинa, И. С. Тарасовa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
PDF полного текста (806 kB) Список цитирования (2)
Аннотация: Исследовано распределение интенсивности излучения лазерного диода по оригинальной методике, основанной на атомно-силовой микроскопии. Показана возможность картирования интенсивности излучения в ближнем поле и переходной зоне мощного полупроводникового лазера в комнатных условиях с субволновым пространственным разрешением. Полученные картины распределения интенсивности согласуются с данными моделирования и результатами, полученными ближнепольной оптической микроскопией.
Поступила в редакцию: 26.03.2015
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2015, Volume 41, Issue 9, Pages 870–873
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785015090163
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: П. А. Алексеев, М. С. Дунаевский, С. О. Слипченко, А. А. Подоскин, И. С. Тарасов, “Картирование интенсивности излучения лазерного диода методом атомно-силовой микроскопии”, Письма в ЖТФ, 41:18 (2015), 8–15; Tech. Phys. Lett., 41:9 (2015), 870–873
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AleDunSli15}
\by П.~А.~Алексеев, М.~С.~Дунаевский, С.~О.~Слипченко, А.~А.~Подоскин, И.~С.~Тарасов
\paper Картирование интенсивности излучения лазерного диода методом атомно-силовой микроскопии
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2015
\vol 41
\issue 18
\pages 8--15
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf7830}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=24196516}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2015
\vol 41
\issue 9
\pages 870--873
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785015090163}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf7830
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v41/i18/p8
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:37
    PDF полного текста:12
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025