|
ФИЗИКА. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ
Влияние асимметрической дифракции на спектрально-угловую плотность КРИ релятивистского электрона в трехслойной структуре
А. В. Носковa, С. В. Блажевичb, А. И. Чуеваb, Д. Д. Мачукаевc, В. К. Кипершаc
a Московский технический университет связи и информатики
b Белгородский государственный национальный исследовательский университет
c Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова
Аннотация:
Работа посвящена исследованию возможности проявления эффекта асимметрической дифракции в когерентном рентгеновском излучении релятивистских электронов в периодической слоистой среде с тремя слоями в периоде. Когерентное рентгеновское излучение рассматривается как сумма параметрического рентгеновского излучения и дифрагированного переходного излучения. Получены и исследованы выражения, описывающие спектрально-угловые плотности когерентного рентгеновского излучения.
Ключевые слова:
периодическая слоистая структура, динамическая дифракция, когерентное рентгеновское излучение, асимметрическая дифракция.
Поступила в редакцию: 30.03.2025
Принята в печать: 30.03.2025
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pmf440
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 13 |
|
Обратная связь: