Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2018, том 48, номер 8, страницы 749–754 (Mi qe16868)  

Эта публикация цитируется в 12 научных статьях (всего в 12 статьях)

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Учет аппаратной функции кристаллических спектрометров, работающих во многих порядках отражения, при диагностике лазерной плазмы по непрерывному спектру

М. А. Алхимоваab, И. Ю. Скобелевab, А. Я. Фаеновac, Д. А. Аричab, Т. А. Пикузad, С. А. Пикузab

a Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва
b Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г. Москва
c Open and Transdisciplinary Research Initiative, Osaka University, Japan
d Graduated School of Engineering, Osaka University, Japan
Список литературы:
Аннотация: На примере рентгеновского спектрометра со сферически изогнутым кристаллом слюды рассмотрено, к каким диагностическим погрешностям может приводить приписывание наблюдаемого спектра тормозного излучения единственному порядку отражения. В качестве иллюстрации использован рентгеновский эмиссионный спектр плазмы, создаваемой на поверхности стальной фольги лазерными импульсами фемтосекундной длительности и релятивистской интенсивности. Показано, что в случае высокотемпературной плазмы получение адекватных результатов требует последовательного учета всех порядков отражения или дифракции диспергирующего устройства.
Ключевые слова: высокотемпературная плазма, рентгеноспектральная диагностика, кристаллический спектрометр, аппаратная функция.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 17-72-20272
Работа выполнена в ОИВТ РАН при финансовой поддержке РНФ (грант № 17-72-20272).
Поступила в редакцию: 12.03.2018
Исправленный вариант: 20.04.2018
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2018, Volume 48, Issue 8, Pages 749–754
DOI: https://doi.org/10.1070/QEL16675
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья


Образец цитирования: М. А. Алхимова, И. Ю. Скобелев, А. Я. Фаенов, Д. А. Арич, Т. А. Пикуз, С. А. Пикуз, “Учет аппаратной функции кристаллических спектрометров, работающих во многих порядках отражения, при диагностике лазерной плазмы по непрерывному спектру”, Квантовая электроника, 48:8 (2018), 749–754 [Quantum Electron., 48:8 (2018), 749–754]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe16868
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v48/i8/p749
  • Эта публикация цитируется в следующих 12 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:183
    PDF полного текста:59
    Список литературы:29
    Первая страница:4
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024