Теплофизика высоких температур
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ТВТ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Теплофизика высоких температур, 1971, том 9, выпуск 2, страницы 448–450 (Mi tvt7990)  
Краткие сообщения

К вопросу об измерении термоэлектрической добротности тонких пленок

В. М. Абросимов, Б. Н. Егоров

Московский физико-технический институт
PDF полного текста (2700 kB)
Поступила в редакцию: 20.07.1970
Тип публикации: Статья
УДК: 539.23:537.323
Образец цитирования: В. М. Абросимов, Б. Н. Егоров, “К вопросу об измерении термоэлектрической добротности тонких пленок”, ТВТ, 9:2 (1971), 448–450; High Temperature, 9:2 (1971), 411–412
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AbrEgo71}
\by В.~М.~Абросимов, Б.~Н.~Егоров
\paper К вопросу об измерении термоэлектрической добротности тонких пленок
\jour ТВТ
\yr 1971
\vol 9
\issue 2
\pages 448--450
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt7990}
\transl
\jour High Temperature
\yr 1971
\vol 9
\issue 2
\pages 411--412
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt7990
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvt/v9/i2/p448
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Теплофизика высоких температур Теплофизика высоких температур
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:78
    PDF полного текста:37
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024