Динамический метод определения интегрального полусферического коэффициента $A_s$ и $\varepsilon$

Описан динамический метод определения коэффициента поглощения электромагнитного излучения $A_s$, излучательной способности $\varepsilon$ и их от­ношения $A_s/\varepsilon$ металлов, сплавов и пленочных покрытий. Кроме того, данным методом можно определить коэффициент вторичной электрон­ной эмиссии и удельную теплоемкость материала. Погрешность в опре­делении $A_s \le 8\%$, в определении $\varepsilon \le 5\%$, в определении $c_p(T) \le 3\%$.