|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
| 1. |
Р. М. Смертин, С. А. Гарахин, С. Ю. Зуев, А. Н. Нечай, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, M. G. Sertsu, A. Sokolov, Н. И. Чхало, F. Schäfers, П. А. Юнин, “Влияние термического отжига на свойства многослойных зеркал Mo/Be”, ЖТФ, 89:11 (2019), 1783–1788   ; R. M. Smertin, S. A. Garakhin, S. Yu. Zuev, A. N. Nechai, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, M. G. Sertsu, A. Sokolov, N. I. Chkhalo, F. Schäfers, P. A. Yunin, “Influence of thermal annealing on the properties of multilayer Mo/Be mirrors”, Tech. Phys., 64:11 (2019), 1692–1697 |
5
|
| 2. |
С. Ю. Зуев, Р. С. Плешков, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало, F. Schäfers, M. G. Sertsu, A. Sokolov, “Влияние барьерных слоев бериллия на свойства многослойных зеркал Mo/Si”, ЖТФ, 89:11 (2019), 1779–1782 ; S. Yu. Zuev, R. S. Pleshkov, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, N. I. Chkhalo, F. Schäfers, M. G. Sertsu, A. Sokolov, “Influence of beryllium barrier layers on the properties of Mo/Si multilayer mirrors”, Tech. Phys., 64:11 (2019), 1688–1691 |
5
|
|
2016 |
| 3. |
П. К. Гайкович, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, Ф. Шеферс, А. Соколов, “Влияние шероховатостей, детерминированных и случайных ошибок в толщинах пленок на отражательные характеристики апериодических зеркал для ЭУФ диапазона”, Квантовая электроника, 46:5 (2016), 406–413 [P. K. Gaikovich, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, F. Schäfers, A. Sokolov, “Effect of roughness, deterministic and random errors in film thickness on the reflecting properties of aperiodic mirrors for the EUV range”, Quantum Electron., 46:5 (2016), 406–413   ] |
8
|
|
