рентгеновские дифракционные методы,
рентгеноструктурный анализ,
рентгеновские дифрактометры,
рентгеновская дифрактометрия,
импульсные источники рентгеновских лучей,
лазерно-плазменные источники рентгеновских лучей,
лазерно-плазменные ускорители электронов,
микрофокусные источники рентгеновских лучей,
альтернативные источники рентгеновских лучей,
рентгеновские лазеры на свободных электронах (XFEL),
отражательная рентгеновская оптики,
рентгеновские детекторы.
Основные темы научной работы
Рентгеновские дифракционные методы исследования конденсированных веществ; наноматериалы;
Основные публикации:
Aslanov L.A., Fetisov G.V., Paseshnichenko K.A., S.F. Dunaev, “Liquid phase methods for design and engineering of two-dimensional nanocrystals”, Coordination Chemistry Reviews, 352 (2017), 220–248
Ischenko A.A., Fetisov G. V., Aslalnov L.A., Nanosilicon: Properties, synthesis, applications, methods of analysis and control, монография, Taylor & Francis Group, CRC Press, 2015, xxvi + 713 pp.
Aslanov L A, Fetisov G V, Howard J A K, Crystallographic Instrumentation, Монография, IUCr: Oxford University Press, 1998, 309 pp.
Фетисов Г. В., Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ, Учебное пособие, Физматлит, М., 2007, 672 с.
Ищенко А.А., Фетисов Г.В., Асланов Л.А., Нанокремний: свойства, получение, применение, методы исследования и контроля, монография, Физматлит, М., 2012, 648 с.
Г. В. Фетисов, “Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения”, УФН, 190:1 (2020), 2–36; G. V. Fetisov, “X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievements”, Phys. Usp., 63:1 (2020), 2–32
Обратная связь: